مقایسه مدل های کلاسیک و کوانتومی در شبیه سازی ترانزیستور اثر میدان نانوسیم استوانه ای

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 341

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

COMCONF04_268

تاریخ نمایه سازی: 10 تیر 1396

چکیده مقاله:

در این مقاله ترانزیستور اثر میدان نانوسیم استوانه ای InAs با استفاده از مدل انتقال رانش نفوذ و همچنین مدل تابع گرین در محیط نرم افزار سیلواکو شبیه سازی شده است. ما در این مقاله به بررسی و مقایسه دو مدل انتقالرانش نفوذ و تابع گرین در مقیاس های کوچک پرداخته ایم. نتایج نشان می دهند که با استفاه از مدل تابع گرین جریان و رسانندگی ترانزیستور نسبت به شبیه سازی ترانزیستور با انتقال رانش نفوذ افزایش می یابد

نویسندگان

غزال ذوالفقاری

گروه مهندسی برق الکترونیک، پردیس علوم و تحقیقات دماوند، دانشگاه آزاد اسلامی، دماوند، ایران. گروه مهندسی برق الکترونیک، واحد دماوند، دانشگاه آزاد اسلامی، دماوند، ایران.

حجت اله خواجه صالحانی

گروه مهندسی - برق الکترونیک، واحد دماوند، دانشگاه آزاد اسلامی، دماوند، ایران.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • G.E.Moore, "Cramming More Components Onto Integrated Circuits", Electronics, vol.38, no.8, ...
  • .M.Lieber. Charles, Wei.Lu, Memb erPing.Xie, _ Nanowire Transistor Performance Limits ...
  • _ _ E.Wernersson, C.Thelander, E.Lind, L.Samuelson, "III-V Nanowires - Extending ...
  • S.Chuang, Q.Gao, R.Kapadia, A.C.Ford, J.Guo, A.Javey, "Ballistic InAs Nanowire Transistors", ...
  • Charles J.Knoch, W.Riess, J.Appenzeller, _ Outperforming the conventional scaling rules ...
  • Silvaco, ATLAS Users Manual _ device simulation software, 2013. ...
  • M. Sze, Semiconductor devices, physics and technology, 2nd ed, New ...
  • نمایش کامل مراجع