مقایسه آنالیز ناپیوستگیهای خطوط مایکرواستریپ با استفاده از روشهای شبه استاتیک و TLM - SCN

در این مقاله از روش عددی تمام موج TLM (Transmission Line Matrix) سه بعدی برای آنالیز ناپیوستگی در خطوط مایکرواستریپ استفاده شده است و پارامترهای -S ناپیوستگی ، با استفاده از روش فوق بدست آمده است . برای بدست آوردن پارامترهای - S نیاز به ایجاد تطبیق کامل روی پورتها می باشد . لذا از لایه های PML(Perfect Matched Layers) برای این منظور استفاده شده است و معادلات PML در روش TLM پیاده سازی شده اند . همچنین ساختارهای مایکرواستریپ مذکور با استفاده از روش شبه - TEM نیز مورد تحلیل قرار گرفته است . نتایج حاصل از این دو روش مقایسه شده اند و نشان داده شده است که در فرکانسهای پائین مایکرویو ، این نمودارها بر هم منطبق می باشند . ولی با افزایش فرکانس این نمودارها از هم دور می شوند و روش شبه -TEM دیگر معتبر نمی باشد و TLM استفاده شده در این مقاله برای حل معادلات ماکسول از نوعSCN(Symmetrical Condensed Node) می باشد .

کلیدواژه ها:

شبه -TEM ، ماتریس -S ، پارامترهای S - و TLM و FFT و PML