راهکارهای کاهش سالمندی در تراشه های قابل بازپیکربندی

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 710

فایل این مقاله در 15 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IRCEM01_240

تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1395

چکیده مقاله:

تراشه های قابل بازپیکربندی به دلیل کارایی و انعطاف پذیری بالا و زمان عرضه به بازار پایین به طور گسترده در حوزه های مختلف مورد استفاده قرار می گیرند. با ورود به حوزه ی نانو در طراحی تراشه های امروزی، چالش های جدیدی در زمینه ی قابلیت اطمینان تراشه ها به وجود آمده است. یکی از این چالش ها اثر سالمندی و تنزل تدریجی خصوصیات ترانزیستورها است. از جمله عوامل سالمندی اثر BTI (ناپایداری حاصل از دما و بایاس) است که به صورت افزایش قدر مطلق ولتاژ آستانه ی ترانزیستور ظاهر می شود و در تراشه های امروزی بیشترین نقش را در تخریب عملکرد مدار بازی می کند. از جمله عواملی که پدیده ی سالمندی BTI راتشدید می نمایند. روشن ماندن ترانزیستور برای مدت طولانی و دمای بالا است. دما به صورت نمایی پدیده ی BTI را تشدید می نماید. این دو عامل افزایش سالمندی در تراشه های قابل بازپیکریبندی نظیر تراشه های FPGA یافت می شوند، لذا در این تراشه ها راهکارهای گوناگونی جهت مدیریت سالمندی ارائه شده است. عمده ی این راهکارها مبتنی بر دو روش کاهش زمان استرس روی ترانزیستورها و مدیریت دما در تراشه است. با توجه به اینکه تراشه های قابل بازپیکربندی انعطاف پذیری بالایی دارند. راهکارهایی که جهت مدیریت سالمندی آنها مطرح می شود نیز با سایر روش های کاهش سالمندی متفاوت است. در این پژوهش راهکارهایی که جهت مدیریت سالمندی در تراشه های FPGA ارائه شده مورد بررسی قرار می گیرد و مزایا و معایب هرکدام بررسی می شود.

کلیدواژه ها:

قابلیت اطمینان ، سالمندی ، تراشه های قابل بازپیکربندی ، جدول جستجو ، NBTI

نویسندگان

بهزاد امیدی

دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده ی کامپیوتر

نظام رهبانی

دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده ی کامپیوتر

سیدقاسم میرعمادی

دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده ی کامپیوتر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Amouri, A., Kiamehr, S., & Tahoori, M. (2012). Investigation of ...
  • Asadi, H., & Tahoori, M. B. (2007). Analytical techniques for ...
  • Butzen, P. F., Dal Bem, V., Reis, A. I., & ...
  • Cannon, E. H., KleinOsowski, A., Kanj, R., Reinhardt, D. D., ...
  • Chinnery, D., & Keutzer, K. (2002). Closing the Gap Between ...
  • Franco, J., Kaczer, B., & Groeseneken, G. (2014). Reliability of ...
  • Grasser, T., Kaczer, B., Goes, W., Reisinger, H., Aichinger, T., ...
  • Gupta, S., & Sapatnekar, S. S. (2012). BTI-aware design using ...
  • Haggag, A., Anderson, G., Parihar, S., Burnett, D., Abeln, G., ...
  • Huard, V., Denais, M., & Parthasarathy, C. (2006). NBTI degradation: ...
  • Kaczer, B., Grasser, T., Roussel, P. J., Martin -Martinez, J., ...
  • Kiamehr, S.. Amouri, A., & Tahoori, M. B. (2011). Investigation ...
  • Leong, C., Semio, J., Teixeira, I. C., Santos, M. B., ...
  • Masud, M. I. (1999). Fpga routing structures: A novel switch ...
  • Mostafa, H., Anis, M., & Elmasry, M. (2011). Adaptive body ...
  • Palem, K., & Lingamneni, A. (2012). What to do about ...
  • Rao, P., Amouri, A., Kiamehr, S., & Tahoori, M. B. ...
  • Sato, Y., Monden, M., Miyake, Y., & Kajihara, S. (2014). ...
  • Siddiqua, T. (2012). A Multi-Level Approach to NBTI Mitigation in ...
  • Stott, E., Wong, J. S., & Cheung, P. Y. (2010). ...
  • Valdes-Pena, M. D., Fernandez Freijedo, J., Rodriguez, M. M., Rodriguez ...
  • Wang, W., Reddy, V., Krishnan, A. T., Vattikonda, R., Krishnan, ...
  • Zhang, H., Bauer, L, Kochte, M. A., Schneider, E., Braun, ...
  • Zhang, H., Kochte, M. A., Schneider, E., Bauer, L., Wunderlich, ...
  • نمایش کامل مراجع