حل معادله حرکت فیلم نانوسیال روی سطح شیب دار
محل انتشار: هفتمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی
سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,699
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISSE07_108
تاریخ نمایه سازی: 29 خرداد 1387
چکیده مقاله:
حل معادله جریان نانو سیال در پایین آمدن از سطح شیب دار در این مقاله مورد بررسی قرار گرفته است . در لایه های نازک (nm100>) نیروهای واندروالس عامل ایجاد پارگی در جریان می شوند در حالی که در لایه های با ضخامت زیاد (nm 100 <) وزن عامل اساسی در ناپایداری و در نهایت پارگی در جریان است . معادله مشخصه حرکت سیال روی سطح شیب دار با استفاده از معادله ناویر استوکس و با در نظر گرفتن نیروهای واندروالس قابل بررسی است . در این مقاله معادلات حا کم بر حرکت این لایه روی سطح شیب دار با استفاده از روش اغتشاش (Perturbation) حل گردیده است.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمد ریاحی
دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه علم و صنعت ایران
میثم شکوری
دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه علم و صنعت ایران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :