اثرات زبری سطوح بر روی رسانندگی جریان در ساختارهای دوبعدی

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 606

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICESCON03_389

تاریخ نمایه سازی: 16 شهریور 1395

چکیده مقاله:

بررسی ظرفیت خازن در قطعات الکترونیک کامپیوتر موبایل یک مسئله بسیار مهم محسوب می شود و به دلیل زبر بودن سطح قطعات نانو مقیاس، مساحت موثر صفحهی زبر بیشتر میشود. و همچنین تجمع بار در نقاط تیز یک سطح منجر به ظهور اثرات خازنی در سطح زبر میشود. که ظرفیت آن از ظرفیت خازن معادلی با همان ابعاد و با سطوح صاف، بیشتر است این اثر با کوچک شدن قطعات بزرگتر می شود. همچنین ظرفیت خازن دو سطح زبر علاوه بر اینکه بر زبری سطح وابسته است به اثرهمبستگی متقابل دو سطح الکترود خازن هم وابسته است نتایج نشان می دهد همبستگی منفی اثر خازنی افزایش و در صورت همبستگی مثبت این اثر کاهش می یابد. و همچنین میدان الکتریکی دو سطح زبر کوپلاژ شده در مقایسه با فقط یک سطح زبر افزایش می یابد اما در مقایسه با دو سطح زبر مستقل با زبری مشابه کاهش می یابد

نویسندگان

مهدی سامی شیراز

دانشکده فیزیک، دانشگاه شهید بهشتی تهران

غلامرضا جعفری

دانشکده فیزیک، دانشگاه شهید بهشتی تهران

هادی سامی شیراز

دانشکده فیزیک دانشگاه فرهنگیان علامه امینی تبریز

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • G. Palasantzas, J. Th. M. De Hosso. (2003). Roughness effects ...
  • Y.- P. Zhao, G.-C. Wang, and T. - M. Lu, ...
  • G.palsantzas, Y.- P. Zhao, G.- C.Wang, T.-M. Lu, J. Barans ...
  • G. Fishman and D. Calecki .(1991) Influence of surface roughness ...
  • G. Palasantzas and J. Barans. (2005) Thin films thickness Measurement ...
  • نمایش کامل مراجع