INVESTIGATION OF SEASUREMENT OF NOISE IN LASER DIODES FOR HIGH DATA RATE BROADBAND TELECOMMUNICATION SYSTEMS

سال انتشار: 1384
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,715

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISCEE08_073

تاریخ نمایه سازی: 1 اسفند 1386

چکیده مقاله:

The aim of this poster is two fold. Firstly to describe the importance of noise in laser diodes used in high data rate broadband telecommunication systems. Secondly to describe a novel technique for measuring the Relative Intensity Noise (RIN) as a function of frequency up to 20GHz with high sensitivities less than – 171 dBm/Hz. It will be shown that this technique provides an adjustable shot noise level and by comparing the adjustable flat noise spectrum with the test spectrum, the main traceable path is determined using measured DC photocurrent . experimental results will be presented to illustrate that frequency dependence of errors, particularly those due to responsivity, gain and misumatch etc, are significantly reduced and precision <0.4dB have been achieved.

نویسندگان

Vaezi-Nejad

Comunication Technology Group Departmen of Computing, Communicatins Tehchnology and Mathematics London Metropolitan University

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • l. Hewlett Packard, Lightwave Signal Analysers Measure Relative Intensity Noise, ...
  • C. Miller, Intensity Modulation and Noise C h aracterisation of ...
  • P. Gambini, M. Puleo, E. Vezzoni, Characteri sation of laser ...
  • R. Newell, The design of a broadband, wide dynami C-range, ...
  • I. Joindot, M easurements of relative intensity noise (RIN) in ...
  • M.M. Hall, J.L. Carlsten, L ow-frequency intensity noise s emiconductor ...
  • Hewlett Packard, Spectrum Analysis Application Note 150, 1989 ...
  • A.D. Helfrick, Electrical Spectrum and Network Analysers, Academic Press, 1991 ...
  • Patent: Device Noise Measurement System, No. 9622338.3, DERA/IPD0 1/P255 1 ...
  • Lightwave Electronics Corp., Introduction to Di ode-Pumped Solid State Lasers, ...
  • نمایش کامل مراجع