تولید سیستم مدیریت نقشه های توپوگرافی کل کشور در پنج مقیاس اصلی و کاربردی با استفاده از سیستم اطلاعات جغرافیائی

محل انتشار: همایش ژئوماتیک 81
سال انتشار: 1381
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 3,865

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

GEO81_44

تاریخ نمایه سازی: 9 دی 1384

چکیده مقاله:

یکی از روشهای نگهداری و مدیریت نقشه های توپوگرافی، اسکن کردن این نقشه ها و تبدیل نقشه های کاغذی به فایل های رقومی می باشد. برای دسترسی و خواندن نقشه های مورد نظر ، روشهای مختلفی پیشنهاد گردیده است. یکی از روشهای موثر و کاربردی در این زمینه استفاده از اندکس یکپارچه نقشه های 1/250000 می باشد که تقسیمات مربوط به نقشه های 1/100000 و 1/50000 و 1/25000 بر روی آن انجام گردیده و تمامی نقشه های فوق با یکدیگر هماهنگ و منطبق می باشند. در این پروژه برای مدیریت نقشه های فوق از نرم افزار ARCVIEW استفاده گردیده و کلیه نقشه های 1/50000 و 1/100000 بصورت رستر و زمین مبناء (Geo Refrence) به اندکس فوق مرتبط گردیده اند. بطوریکه با انتخاب نقشه و یا نقشه های مورد نظر بر روی اندکس ، سیستم بطور اتوماتیک نقشه های مورد نظر را بر روی صفحه نمایش آورده و در کنار یکدیگر موزائیک می نماید. همچنین این سیستم هنگام نمایش لایه های وکتور نام و مشخصات مربوط به هر لایه و یا اسامی نقشه های 1/50000 و 1/100000 را نمایش می دهد. استفاده از این سیستم ابزار موفقی برای مدیریت و استفاده از نقشه های توپوگرافی بصورت رستر و وکتور ایجاد نموده است و هم اکنون وظیفه نگهداری و مدیریت بیش از 7000 نقشه توپوگرافی با حجم تقریبی 40 گیگابایت را به عهده دارد. این سیستم همچنین دارای یکسری از قابلیت های سیستم اطلاعات جغرافیائی بوده و توانائی یافتن نقشه های مورد نظر را بر اساس اسم و یا مختصات جغرافیائی و شماره نقشه دارا می باشد. در این سیستم می توان کلیه اطلاعات موجود از یک منطقه را با استفاده از سیستم مختصات UTM بر روی یکدیگر موزائیک نموده و پردازشهای مورد نظر از قبیل تجزیه و تحلیل های مربوط به همپوشانی ، تجزیه و تحلیل شبکه ، تولید DTM و ... را بر روی اطلاعات انجام داد.

نویسندگان

سعید رضایی

کارشناس ارشد سنجش از دور پژوهشکده علوم دفاعی دانشگاه امام حسین(ع) -کارش

مهدی عابدینی

دانشجوی دکترای فتوگرمتری دانشگاه صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی