خطای غیر خطی ناشی از صفحات زبع طول موج در اندازه گیری نانو جابجایی های خطی در یک اندکدر لیزری با تحلیل ماتریس جونز
- سال انتشار: 1394
- محل انتشار: چهارمین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیزر ایران
- کد COI اختصاصی: NCOLE04_184
- زبان مقاله: فارسی
- تعداد مشاهده: 740
نویسندگان
آزمایشگاه تحقیقاتی نانوفوتونیک و اپتو الکترونیک ،دانشکده مهندسی برق، دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی ، لویزان
آزمایشگاه تحقیقاتی نانوفوتونیک و اپتو الکترونیک ،دانشکده مهندسی برق، دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی ، لویزان
چکیده
در این مقاله خطای غیر خطی یک اندکر لیزری با استفاده از روش ماتریس جونز مدلسازی شده است. میدان الکتریکی پرتو نور فرودی روی آشکارسازها با استفاده از ضرب ماتریس های جونز قطعات نوری به دست آورده شده که در این بررسی صفحات زبع طول موج غیر ایده آل و بقیه ایده آل در نظر گرفته شده اند. جریان نوری خروجی آشکارسازها محاسبه و با نرم افزار متلب شبیه سازی شده است. نانو جابجایی شبکه مقیاس با استفاده از روش تانژانت معکوس محاسبه شده است.همچنین به ازای گام شبکه مقیاس برابر یک میکرومتر و طول موج پرتو لیزر برابر 685 نانومتر، بیشینه فاز خطای غیر خطی برابر 0.05231 رادیان به دست آمده است.کلیدواژه ها
نانو جابجایی ، خطای غیر خطی، جداکننده-قطبنده ، صفحه ربع طول موجمقالات مرتبط جدید
- بررسی خطای کنتورهای دیجیتال در اندازه گیری انرژی الکتریکی تحت شرایط اغتشاشات هارمونیکی
- عمرسنجی غیرمخرب روغن ترانسفورماتور از طریق امواج مایکروویو
- ارزیابی قابلیت اطمینان سیستم های قدرت در حضور مزارع بادی و برنامه های پاسخگویی بار
- کنترل بهینه فیلتر اکتیو در شبکه های توزیع بر مبنای آشکارسازی جریان راکتیو
- دسته بندی و تحلیل عوامل خطا بر اساس تکنیک خوشه بندی در شبکه توزیع برق
اطلاعات بیشتر در مورد COI
COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.
کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.