Study of a nano-Scale Length Tri-Gate FinFET Based on 3-D Simulations

سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 632

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

COMCONF01_513

تاریخ نمایه سازی: 8 آذر 1394

چکیده مقاله:

In this paper, channel length changings are studied for Trigate SOI FinFET based on a 3-D simulation. Changing channel length is between 10 to 100 nm. output characteristics, threshold voltage, subthreshold slope and drain induced barrier lowering (DIBL), gm, ro are investigated.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

B Fakhr

Department of Electrical Engineering, Neyshabur Branch ,Islamic Azad University Neyshabur ,Iran

S.E Hosseini

Electrical Engineering Department, Ferdowsi University of Mashhad, Mashhad, Iran,

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ Yu, "FinFET scaling to 10 nm gate length, ". ...
  • vs. bulk FinFET: Body doping and corner effects inluence on ...
  • Bohr, M., "The evolution of scaling from the homogeneous era ...
  • S. E. Thompson, M.A., C. Auth, M. Alavi, M. Buehler, ...
  • Sebastian, J. Seiple, D. Simon, S. Sivakumar, P. Smith, C. ...
  • Ghai, D., S.P. Mohanty, and G. Thakral. "Comparative analysis of ...
  • A. Asenov, A.R.B., J. H. Davies, S. Kaya, and G. ...
  • M. Shrivastava, M.A., J. Aghassi, H. Gossner, W. MolzerT. Schulz, ...
  • Es-Sakhi, A. and M.H. Chowdhury. "Analytical model to estimate the ...
  • Khan, H.R., D. Mamaluy, and D. Vasileska, "Simulation of the ...
  • Mahender Veshala, R.J., Kota Rajesh Reddy, "Reduction of Short-Channl Effects ...
  • Anwar, A. and I. Hossain. " A comparative numerical simulation ...
  • نمایش کامل مراجع