ارزیابی عملکرد محدودکننده جریان خطا بر کیفیت توان شبکه های شعاعی و حلقوی

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 792

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

INCEE02_069

تاریخ نمایه سازی: 19 تیر 1394

چکیده مقاله:

امروزه با رشد فزاینده تقاضای بار، ورود و گسترش منابع تولید پراکنده و همچنین بهم پیوستگی شبکه های قدرت، سبب شده است سطح اتصال کوتاه در سیستم قدرت افزایش شایانی پیدا کند. افزایش سطح اتصال کوتاه می تواند باعث تخریب تجهیزات شود. کیفیت توان در طول خطا و زمان بازیابی نیز به طرق مختلف تحت تأثیر قرار می گیرد. یک اتصال کوتاه در شبکه قدرت معمولاً افزایش فرورفتگی ولتاژ دراثر شارش جریان زیاد در شبکه را به دنبال دارد. یکی از راه کارهای کاهش سطح اتصال کوتاه بهره گیری از محدود کننده جریان خطا می باشد. در این مقاله تأثیر محدود کننده های ابررسانا (SFCL) و حالت جامد (SSFCL) بر کاهش فرورفتگی ولتاژ در شبکه های شعاعی و حلقوی مورد ارزیابی و مقایسه قرار گرفته است. نتایج حاصل اظ شبیه سازی در محیط نرم افزار PSCAD/EMTDC نشان می دهد که هردو محدودکننده از طریق کاهش فرورفتگی ولتاژ سبب بهبود کیفیت توان می شوند، همچنین نتایج حاصل از بررسی فرورفتگی ولتاژ در شبکه حلقوی با شبکه شعاعی مقایسه شده است.

نویسندگان

سیدمحمد رضویان

دانشجوی کارشناسی ارشد برق- قدرت، دانشکده برق و کامپیوتر، دانشگاه سمنان

رضا ملکی مهیاری

دانشجوی کارشناسی ارشد برق- قدرت، دانشکده برق و کامپیوتر، دانشگاه سمنان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • New 4Aه [6] G. Chen, D. Jiang, Z. Lu, and ...
  • "Survey of Fault Current Limiter (FCL) Technologies, EPRI, Palo Alto, ...
  • H. G. Sarmiento and et al, "An Example in Controlling ...
  • General Meeting , 13-17 July, 2003, pp. 589- 594. ...
  • Lin Ye and A. Campbell, "Behavior Investigations of S up ...
  • M. Steurer, P. E Ribeiro and M. Noe, _ _ ...
  • C onsiderations, and Outlook, " in Proc. Of IEEE PES, ...
  • N. Hayakawa, H. Kagawa, H. Okubo, N. Kashima and S. ...
  • improvement, IEEE Transactions on Applied Sup erconductivity, Vol. 11, Issue: ...
  • A. Sundaram and M. Gandhi, "Development of a Test Protocol ...
  • S. Najafi and V. K. Sood, "Transient Behavior of Static ...
  • D. Ioka and et al, "Effect of Fault Current Limiter ...
  • Niayesh, Kaveh, Jens Tepper, and F. Konig. "A Novel Current ...
  • Abramovitz, Alexander, and Keuye Ma Smedley. "Survey of Solid-State Fault ...
  • Transactions on 27.6, 2770-2782, 2012. ...
  • Hoshino Tsutomu and et al, "DC Reactor Effect on Bridge ...
  • نمایش کامل مراجع