طراحی فلیپ فلاپ توان کم با قابلیت تحمل خطای نرم

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 861

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

DCEAEM01_193

تاریخ نمایه سازی: 18 دی 1393

چکیده مقاله:

امروزه پیشرفت تکنولوژی و افزایش تراکم مدارهای مجتمع باعث افزایش حساسیت مداردربرابرتشعشعات پرانرژی شده است علت این افزایش حساسیت این است که باافزایش تراکم مدار ازیک طرف ولتاژ تغذیه وخازن گره ها کاهش می یابد وازطرف دیگرفرکانس کاری مدارافزایش می یابد بطوریکه همه این عوامل باعث کاهش باربحرانی درگره های مدار شده وحساسیت آن را درباربرذرات پرانرژی افزایش میدهند ازانجا که فلیپ فلاپ ها به عنوان عناصرحافظه درمداراستفاده میشوند جلوگیری ازانتشارخطا به خروجی آنها ازاهمیت ویژه ای برخوردار است دراین مقاله یک فلاپ فلاپ پالسی مقاوم دربرابرخطا باتوان مصرفی کم ارایه شده که درآن ازیک سلول حافظه چهارترانزیستوری برای جلوگیری ازانتشارخطا به خروجی استفاده شده است این مدارتوسط نرم افزار HSPICE ودرتکنولوژی 45نانومترشبیه سازی وبادومداردیگرمقایسه شده است نتایج حاصل ازشبیه سازی نشان میدهد که توان مصرفی درفعالیت های سوئیچینگ متفاوت به میزان 13-48درصدوPDPحاصلضرب توان و تاخیربه میزان 54-67درصدکاهش وباربحرانی به میزان 85-164درصد افزایش یافته است

نویسندگان

زهره نصیری نژاد

دانشجوی کارشناسی ارشدمهندسی برق الکترونیک دانشگاه شهید باهنر کرمان

محسن صانعی

استادیاردانشکده فنی مهندسی دانشگاه شهید باهنر کرمان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • رم‌دیده، رامین، بررسی و طراحی فلیپ‌فلاپ‌ها با توان مصرفی کم ...
  • I2] احمدیان مرج، اسماء، طراحی فلیپ‌فلاپ‌های با توان مصرفی کم ...
  • G. Messenger, 1982, Collection of charge on junction nodes from ...
  • J. Segura and C. F. Hawkins, 2004, CMOS electronics: how ...
  • L. Lantz, 1996, Soft errors induced by alpha particles, IEEE ...
  • F. L. Kastensmidt and R. Reis, 2007, Fault- tolerance techniques ...
  • M. Chenand A. Orailoglu, 2009, Flip-flop hardening and selection for ...
  • S. Mitra, M. Zhang, N. Seifert, T. Mak, and K. ...
  • Y. Sasaki, K. Namba, and H. Ito, 2006, Soft error ...
  • M. Omaia, D. Rossi, and C. Metra, 2007, Latch susceptibility ...
  • X. She, N. Li, R. M. Carlson, and D. O. ...
  • H. Nan and K Choi, 2012, High performance, low cost, ...
  • نمایش کامل مراجع