بررسی تاثیر ضخامت سیلیکا بر عملکرد نانوساختار جفت شده میله/پوسته/حلقه

سال انتشار: 1404
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 19

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

TAAPY05_008

تاریخ نمایه سازی: 28 شهریور 1405

چکیده مقاله:

در این مقاله نانوساختار میله (نقره)/دی الکتریک(سیلیکا)/حلقه(نقره) برای کنترل طول موج تشدید پلاسمون سطحی موضعی (LSPR) و نیز بهره برداری در کاربردهای مبتنی بر LSPR پیشنهاد و تاثیر ضخامت دی الکتریک بر طول موج تشدید و جفت شدگی نوسانات در میله و حلقه نقره مورد ارزیابی قرار می گیرد. نتایج بررسی ها نشان می دهد که طول موج LSPR در ساختار پیشنهادی نسبت به تغییر مکان حلقه روی میله و تغییر ضخامت پوسته دی الکتریک، کوک پذیری بسیار بالایی دارد که این ساختار را به یک ساختار ساده و کاربردی در طول موج های تشدید مختلف تبدیل می کند. افزایش ضخامت سیلیکا از ۲.۵ تا ۲۰ نانومتر باعث انتقال به آبی طول موج LSPR در بازه ۸۰۰ تا ۶۶۰ نانومتر به ازای مکان حلقه ۲۷.۵ نانومتر می شود. همچنین، جفت شدگی نوسانات دو نانوساختار پلاسمونی باعث افزایش ارتفاع و کاهش FWHM قله پلاسمونی می شود.

نویسندگان

طاهره زکی

گروه اپتیک و لیزر، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران

مهدی سویزی

گروه اپتیک و لیزر، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران

مریم علیان نژادی

گروه اپتیک و لیزر، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران