مقاله پژوهشی: طیف سنجی غیرمستقیم پرتو ایکس گسیل شده در سامانه پلاسمای کانونی IR-MPF-۱۰۰

سامانه پلاسمای کانونی در حین فاز تنگش، پالس های کوتاه و شدیدی از پرتو ایکس تولید می کند. این پرتو های ایکس ابزار تشخیصی ارزشمندی برای درک عملکرد و ویژگی های سامانه هستند. روش های طیف سنجی سنتی ممکن است به دلیل مدت زمان کوتاه و شدت بالای پرتوهای ایکس ساطع شده از دستگاه پلاسما کانونی، در توصیف دقیق ماهیت پالسی آن ها با مشکل مواجه شوند. روش طیف سنجی غیرمستقیم، به ویژه با استفاده از فیلم پرتونگاری و فیلترهای تضعیف، امکان توصیف طیف پرتو ایکس ساطع شده از سامانه پلاسما کانونی را فراهم می کند. در این پژوهش با استفاده از فیلم دندانپزشکی و فیلترهای تضعیفی از جنس آلومینیوم و شبیه سازی با کد MCNPx، طیف تابش ایکس سخت گسیل یافته از سامانه پلاسما کانونی IR-MPF-۱۰۰ بدست آمده است. نتایج نشان داد که طیف گسیلی از این دستگاه  در ولتاژ کاری   kV ۱۷ با گاز پرکننده نئون با فشار mbar ۱/۱  در بازه keV ۱۵۰ تا keV ۵۰۰ است و دارای بیشینه ای در انرژیkeV ۳۵۰ می­باشد.

کلیدواژه ها:

تابش ایکس ، سامانه پلاسمای کانونی ، طیف سنجی غیرمستقیم ، فیلم پرتونگاری