شبیه سازی و مطالعه طیفهای اپتیکی لایه های نازک TCO بر اساس پارامترهای الکتریکی لایه

سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,393

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CMC08_111

تاریخ نمایه سازی: 3 اسفند 1385

چکیده مقاله:

با توجه به کاربرد روزافزون لایه های نازک TCO در زمینه های گوناگون اپتوالکتریکی، تعیین ویژگی های اپتیکی لایه ها پیش از تهیه آنها، می تواند جالب باشد . در این مقاله با یک توضیح در باره تئوری درود و نحوه بدست آوردن ثابتهای اپتیکی از پارامترهای الکتریکی لایه، به شبیه سازی طیف عبور و بازتاب و جذب با استفاده از این تئوری می پردازیم . اهمیت پارامترهای الکتریکی در تعیین و پیشگویی تابع دی الکتریک مختلط، ضریب شکست، ضریب خاموشی و شفافیت اپتیکی بر اساس تئوری درود، به صورت محاسباتی وشبیه سازی تئوری نشان داده شده است . در نهایت نمونه طیف عبور لایه های ITO و ZTO ، شبیه سازی و با طیفهای تجربی مقایسه شده اند

نویسندگان

سیدمحمد روضاتی

گروه فیزیک دانشگاه گیلان دانشکده علوم، رشت

نفیسه معماریان

گروه فیزیک دانشگاه گیلان دانشکده علوم، رشت