ساخت دستگاه اندازه گیری ضریب س یبک نمونه های توده ای در دمای پایین
محل انتشار: هشتمین کنفرانس ماده چگال
سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,814
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CMC08_065
تاریخ نمایه سازی: 3 اسفند 1385
چکیده مقاله:
دستگاه توصیف شده در این مقاله به منظور اندازه گیری ضریب سیبک نمونه های پودری نانو ذره به کار می رود که در آن یک گرادیان دمایی در عرض نمونه توسط یک هیتر و یک سردکننده هلیومی ایجاد گردیده و سپس اختلاف ولتاژ سیبک در دماههای مختلف اندازه گیری و ضریب سیبک از شیب نمودار اختلاف ولتاژ بر حسب اختلاف دما بدست آمده است . در انتها نتایج اندازه گیری در مورد ماده بیسموت تلوراید آورده شده است
نویسندگان
محمد الهی
گروه فیزیک - دانشکده علوم - دانشگاه رازی کرمانشاه
فریبرز بهاری
گروه فیزیک - دانشکده علوم - دانشگاه رازی کرمانشاه