یک خودآزمون نیمه توکار برای آزمایش هسته های حافظه با استفاده از کدهای ماتریسی
محل انتشار: پانزدهیمن کنفرانس مهندسی برق ایران
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,502
فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICEE15_291
تاریخ نمایه سازی: 17 بهمن 1385
چکیده مقاله:
در این مقاله روشی را بکار برده ایم که از آزمایشهای شبه تصادفی بهره برده وبا کمترین هزینه و سربار مساحتی هسته های حافظه را فقط با الگوهای تصادفی مورد ازمایش قرار می دهد. این روش یک روش آزمایش نیمه توکار(SBIST) است. زیرا در آن از یک پیچنده استفاده شده که استراتژی کدهای ماتریسی را برای آزمایش هسته حافظه بکار می برد و نتایج آزمایش را به یک آزماینده خارجی جهت مقایسه و تشخیص اشکال بصورت سریال ارسال میکند. این روش با حداقل سربار مساحتی دارای قابلیت آشکارسازی و مکان یابی اشکالات را داراست.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
رضا نورمندی
واحد علوم و تحقیقات - حصارک
احمد خادم زاده
مرکز تحقیقات مخابرات ایران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :