تحلیل تجربی بازدهی جمع آوری بار در آشکارسازهای نیمه هادی با روش بار القایی یون های با انرژی MeV

سال انتشار: 1404
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 18

فایل این مقاله در 11 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_PSI-25-2_018

تاریخ نمایه سازی: 16 دی 1404

چکیده مقاله:

روش تحلیل بار القایی باریکه یونی (IBIC) یکی از راهکار های موثر برای بررسی بازدهی جمع آوری بار CCE در مواد نیمه هادی است. این روش همچنین کاربرد گسترده ای در تحلیل اثرات تابش یونیزان بر عملکرد دستگاه های الکترونیکی و ارزیابی پاسخ آشکارسازهای ذرات باردار در شرایط پرتودهی دارد. در این کار پژوهشی، از چشمه آلفای  و آشکارساز ذرات باردار سیلیسیومی کاشت شده با یون در محفظه خلاء استفاده شده است. با تغییر ولتاژ تغذیه آشکارساز و در واقع عمق لایه تهی آن و اندازه گیری طیف آلفا، بازدهی جمع آوری بار تعیین شد. همچنین شبیه سازی هایی برای تخمین CCE انجام شد. نتایج شبیه سازی ها تطابق خوبی با داده های تجربی نشان دادند و روند تغییرات CCE نسبت به ولتاژ تغذیه با دقت قابل قبولی بازسازی شد. این پژوهش با ارائه تحلیل تجربی و شبیه سازی شده عملکرد آشکارسازهای ذرات باردار از طریق روش IBIC، می تواند به درک بهتر رفتار این آشکارسازها در شرایط پرتودهی و کاربردهای مختلف علمی و فناوری کمک کند.

کلیدواژه ها:

بار القایی باریکه یونی (IBIC) ، بازدهی جمع آوری بار (CCE) ، آشکارسازهای نیمه هادی ، باریکه یونی MeV

نویسندگان

زینب سادات ایمانی

گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور، تهران، ایران

امید رضا کاکویی

پژوهشکده فیزیک و شتابگرها، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران، ایران

امیر عباس صبوری دودران

گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور، تهران، ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • E Vittone et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۴۴۹ (۲۰۱۹) ...
  • M B H Breese et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ...
  • A G Osuna, “Study and characterisation of semiconductor radiation detectors ...
  • “https://indico.cern.ch/event/۱۲۱۴۴۱۰/contributions/۵۳۲۵۴۶۲/attachments/۲۶۱۶۲۱۲/ ۴۵۲۲۱۴۱/ IBIC for DRD۳ Jaksic.pdf.” (accessed Aug. ۰۴, ۲۰۲۵). ...
  • https://aida۲۰۲۰.web.cern.ch/aida۲۰۲۰/node/۲۷۵.html (accessed Aug. ۰۴, ۲۰۲۵). ...
  • M R Ramos et al., Materials (Basel) ۱۵ (۲۰۲۲) ۳۸۸. ...
  • M Jakšić et al., Phys. ۱۰ (۲۰۲۲) ۸۷۷۵۷۷. ...
  • J Forneris et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۳۰۶ (۲۰۱۳) ...
  • E Vittone, Instr. Meth. Phys. Res.B ۲۱۹ (۲۰۰۴) ۱۰۴۳. ...
  • E Vittone, Sch. Res. Not., vol. ۲۰۱۳, ۱, (۲۰۱۳) ۶۳۷۶۰۸. ...
  • E Vittone et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۲۶۶ (۲۰۰۸) ...
  • E Vittone et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۱۶۱ (۲۰۰۰) ...
  • M Ciappa, et al., Reliab. ۸۸ (۲۰۱۸) ۴۷۶. ...
  • P Rossi et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۲۴۹ (۲۰۰۶) ...
  • J Gómez-Camacho et al., Phys. J. Plus ۱۳۶ (۲۰۲۱) ۲۷۳. ...
  • T L Tang, Instr. Meth. Phys. Res.A ۱۰۳۴ (۲۰۲۲) ۱۶۶۶۲۳. ...
  • CAEN, DT۵۷۳۰ – ۸ Channel ۱۴-bit ۵۰۰ MS/s Digitizer, https://www.caen.it/products/dt۵۷۳۰/ ...
  • CAEN, MC۲ Analyzer – Pulse Processing Software, https://www.caen.it/products/mc۲analyzer/ (accessed Aug. ...
  • S Inc., Silvaco – TCAD Software Tools, https://silvaco.com (accessed Aug. ...
  • آموزش شبیه سازی ادوات نیمه هادی با سیلواکو, https://faradars.org/courses/fvee۹۵۱۱۱-silvaco-for-simulate-semiconductor-device (accessed ...
  • J F Ziegler, SRIM – The Stopping and Range of ...
  • G Vizkelethy, Instr. Meth. Phys. Res.B ۲۶۹ (۲۰۱۱) ۲۳۳۰. ...
  • https://indico.ictp.it/event/a۱۱۱۸۲/session/۱۲/contribution/۷/material/۰/۰.pdf (accessed Aug. ۰۴, ۲۰۲۵). ...
  • J Forneris, “Theory and applications of the Ion Beam Induced ...
  • J Garcia Lopez et al., IAEA Tech. Rep. Ser. ۴۹۰ ...
  • E Vittone et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۱۵۸ (۱۹۹۹) ...
  • N Barbero et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۳۴۸ (۲۰۱۵) ...
  • M McPherson et al., Sci. Technol. ۱۲ (۱۹۹۷) ۱۱۸۷. ...
  • http://www.solid.unito.it/RICERCA/IBA/IST.html (accessed Aug. ۰۴, ۲۰۲۵). ...
  • S M SZE, “Semiconductor Devices Physics and Technology” (۱۹۸۵). ...
  • ORTEC, Introduction to Charged-Particle Detectors, https://www.ortec-online.com/-/media/ametekortec/other/introduction-charged-particle-detectors.pdf (accessed Aug. ۰۴, ۲۰۲۵). ...
  • A V Shchagin et al., Instr. Meth. Phys. Res.B ۳۸۷ ...
  • J Kemmer, Instr. Meth. Phys. Res.A ۲۲۶ (۱۹۸۴) ۸۹. ...
  • H S Kim et al., Korean Phys. Soc. ۵۲ (۲۰۰۸) ...
  • نمایش کامل مراجع