خواص ( ساختاری، مورفولوژیکی، نوری ) و ترکیب درصد شیمیایی لایه های نازک نانوکریستال سولفید روی (ZnS) تهیه شده به روش جدید لایه نشانی حمام شیمیایی

سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 3,959

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IPC85_021

تاریخ نمایه سازی: 13 بهمن 1385

چکیده مقاله:

لایه های نازک نانو کریستال سولفید روی (ZnS) به روش جدید لایه نشانی حمام شیمیایی (CBD) روی زیرلایه های شیشه ای و کوارتزی تهیه شدند . در به عنوان منبع یونهای سولفید (TAA) به عنوان عامل کمپلکس کننده و از تیو استامید (EDTA) این روش ازنمک دی سدیک اتیلن دی آمین تترا استیک اسید استفاده شد . ضخامت لایه ها از چند نانومتر تا 500 نانومتر متغیر بود . ترکیب درصد شیمیایی لایه ها به روش های (EDX) و طیف سنجی زیر قرمز تبدیل فوریه (FTIR)مورد مطالعه قرار گرفت . لایه ها دارای استوکیومتری بسیار نزدیک به ZnS بوده است و ما هیچ گونه ترکیبات آلی به شکل ناخالصی در لایه ها مشاهده نکردیم . پراش اشعه ی (XRD) X لایه و رسوب جمع آوری شده از همان حمام واکنش نشان می دهد که هر دو دارای ساختار مکعبی بلاند روی هستند . لایه ها بیش از % 75 نور را در ناحیه ی مرئی از خود عبور می دهند . ثابت های اپتیکی لایه ها از جمله ضریب جذب و گاف نواری با استفاده از اندازه گیریهای اسپکتروفتومتری جذبی تعیین شدند .

نویسندگان

رضا صحرائی

گروه شیمی فیزیک ، دانشکده ی شیمی ، دانشگاه تربیت معلم

علی رضا گودرزی

گروه شیمی فیزیک ، دانشکده ی شیمی ، دانشگاه تربیت معلم

هیوا احمدپور

گروه شیمی فیزیک ، دانشکده ی شیمی ، دانشگاه تربیت معلم

غفار متدین اول

گروه شیمی فیزیک ، دانشکده ی شیمی ، دانشگاه تربیت معلم

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • T:'Nakada, M.Mizutni, Y. Hagiwara, and A. Kunioka; SolarEnergy Material & ...
  • _ Eisele, M. Lu-Steiner, T. P. Niesen and F. Karg; ...
  • D:schmid, M. _ F. Grunwald and H. W. Schock; J. ...
  • M. Bredol and J. Merikhi; J. Mater. Sci. 33 (1998) ...
  • A. U. Ubale and D. K. Kulkarni; _ Vol. 28, ...
  • f:.Zlenyi, _. Vichao, H. Yongliang, Y. Yaoyuan, D. Yanping, _ ...
  • M. Ichimura, F. Goto, Y. Ono, and E. Arai; J. ...
  • S. Lindroos, Y. Charreire, D. Bonnin, and M. Leskela; Material ...
  • H. H. Afifi, S. A. Mahmoud, and A. Ashour; Thin ...
  • R. Nomura, T. Murai, T. Toyosaki, and H. Matsuda; Thin ...
  • _ : M. Dona, and J. Herreo; J. Electochem. Soc. ...
  • _ and Wilkinson; Advanced inorganic chemistry, Publishers John Wiley & ...
  • D. A. Johnston, M. H. Carletto, _ R. W. Miles; ...
  • Joint Committe on Powder Diffraction Standards, Card 5-566. ...
  • E.Lishin, X-ray Charachterization of Materials, _ York, (1999), p. 37 ...
  • k.Yamguci, T. Yoshida, D. Lincot, and H. Minoura; .J. P. ...
  • Cherm. B, 107 (2003) 387-397 ...
  • نمایش کامل مراجع