توسعه یک میکروسکوپ میکرو فوتولومینسانس برای شناسایی میکروال ای دی های معیوب در فرآیند ساخت
سال انتشار: 1404
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 28
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_TJEE-55-3_019
تاریخ نمایه سازی: 6 دی 1404
چکیده مقاله:
میکروسکوپ میکرو فوتولومینسانس جدیدی با استفاده از لیزرهای تحریک موج پیوسته ۴۰۵ نانومتر برای بررسی میکرو ال ای دی های آبی که در طول موج ۴۵۰ نانومتر نور فوتولومینسانس تولید می کنند، توسعه یافته است. این سیستم قادر است چاه های کوانتومی معیوب میکرو ال ای دی را که به دلیل ناتوانی در تولید نور زیر میکروسکوپ تاریک دیده می شوند، شناسایی کند. در این پژوهش نشان داده شده که میکروسکوپ میکرو فوتولومینسانس می تواند نقص ها را مستقیما روی ویفر و در حین فرآیند ساخت، پیش از تست الکتریکی، تشخیص دهد. شناسایی زودهنگام چنین ایراداتی از ادامه تولید ال ای دی های معیوب جلوگیری کرده و به کاهش هزینه ها و افزایش بهره وری کمک می کند. همچنین، این سیستم قادر است برخی عیوب پنهان را که با میکروسکوپ های معمولی قابل مشاهده نیستند، آشکار کند. این روش پیشرفته امکان ارزیابی و مقایسه کیفیت میکرو ال ای دی ها را در بین ویفرها و حتی درون یک تصویر فراهم می آورد و به عنوان روشی غیرتماسی و دقیق برای کنترل کیفیت در خط تولید میکرو ال ای دی ها شناخته می شود.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمد هندیجانی فرد
استادیار، دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه شیراز، شیراز، ایران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :