ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

یک روش خود آزمون توکار برای آزمایش اتصالات سیستم - بر- تراش با استفاده از مکانیزم دسترسی سریال استاندارد IEEE 1500

محل انتشار: اولین کنفرانس ملی مهندسی برق اصفهان
سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 675

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/237023

شناسه ملی سند علمی:

ISFAHANELEC01_079

تاریخ نمایه سازی: 23 اسفند 1392

چکیده مقاله:

با پیشرفت تکنولوژی و افزایش فرکانس در محدوده GHz+ طراحی و آزمایش اتصالات از اهمیت برخوردار است. در این مقال ما یک نمادی پیمایش مرزی مبتنی بر خود آزمون پشتکار پیشنهاد داده‌ایم که با استفاده از آن اشکالات هم شنوایی لینکهای ارتباطی بین سوئیچ های شبکه - بر- تراشه تحت آزمایش با سرعت عمل کردی تراشه قرار می‌گیرند. این نمایش شامل سلول‌های طبیعی یافته پی چنده استاندارد IEEE 1500 جهت تولید الگوهای آزمایش مدل MAF آنالیز پاسخ‌های آزمایش می‌باشد. به مزار سازگاری کامل با استاندارد IEEE 1500 دستورالعمل جدید نیز جهت کنترل سلول‌ها و عملیات پیمایش در مکانیسم دسترسی سریال پیچنده استفاده شده است.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

رضا نورمندی پور

عضو هیئت علمی گروه کامپیوتر - دانشگاه آزاد اسلامی واحد سیرجان

نفیسه موسویان

دانشجوی مقطع دکتری

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • 1500 SECT Task Forces. IEEE 1500 Web Site ...
  • Z. Chen, I. Koren, "Crosstalk Minimization in Three- layer HVH ...
  • A.B. Kahng _ S. Muddu, E. Sarto, R. Sharma, : ...
  • H. Zhou, D. F. Wang, "Global Routing with Crosstalk ...
  • Constraints, " _ _ _ automation conference, San Francisco, CA, ...
  • W. Chen, S.K. Gupta, M.A. Breuer, "Test Generation for Cro ...
  • A. Sinha, S.K.Gupta, M.A. breuer, " Validation and Test VLSI ...
  • Interconects, " in proceedings of the intermational conference on computer ...
  • K.T.Lee, C. Nordquist, J. Abraham, " Automatic Test Patter Generation ...
  • _ H. Tehranipour, N. Ahmed, M. Nourani, "Testing SOC Interconects ...
  • W. Tseng, T. Chien. _ self-test structure for crosstalk fault ...
  • C. Sunghoon, K. Yongjoon, K. Sungho. "MDSI: Signal integrity interconmect ...
  • R. N ourmandi-pour, A. Khadem-zadeh, A.M. Rahmani, IEEE 1 149.1-based ...
  • M. Cuviello, S. Dey, X. Bai and Y. Zhao, "Fault ...
  • M. H. Tehranipour, N. Ahmed and M. Nourani, Testing SOC ...
    • نمایش کامل مراجع