محاسبه ترازهای انرژی نانو خوشه های سیلیکان به روش بستگی قوی تجربی

در این مقاله ، ساختار نواری و چگالی حالتهای سیلیکان کپه ای را با استفاده از روش بستگی قوی تجربی در تقریب همسایه اول با پایه های sp3s* و تقریب همسایه سوم نامتعامد محاسبه می کنیم. سپس با استفاده از تقریب همسایه اول با پایه های sp3s* و همسایه سوم با پایه نامتعامد گاف انرژی و چگالی حالتهای ناخوشه های کروی سیلیکان را در قطرهای متفاوت محاسبه می کنیم. گاف انرژی بدست آمده در این تقریبها توافق خوبی رابا نتایج تجربی و در قطرهای بزرگ با تقریب جرم موثر نشان می دهند.

کلیدواژه ها:

ساختار نواری ، روش بستگی قوی تجربی و نانو ساختارها

نویسندگان

بهرام بهرامی

دانشگاه شهید بهشتی - گروه فیزیک

حسن عزیزی

دانشگاه شهید بهشتی - گروه فیزیک

نسترن منصور

دانشگاه شهید بهشتی - گروه فیزیک

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

J. V. Behren, T. V. Buuren, M. Zacharias, E. H. ...
E. Kaxiras, Atomic and Electronic Structure of solids, Combridge (20 ...
R. M.Martin, Electronic Structure: Basic Theory Practical Methods, Combridge (2 ...
L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990). ...
M. Nishida, J. Appl. Phys. 98, 023705 (2005). ...
J. C. Slater and G. F. Koster, Phys. Rev. 94, ...
D. J. Chadi, Phys. Rev. B 16, 790 (1977). ...
P. Vogl, H. P. Hjalmarson, and J. D. Dow, J. ...
L. F. Mattheiss and J. R. Patel, Phys. Rev. B ...
C. Tserbak, H. M. Polatoglou, and G. Theodorou, Phys. Rev. ...
J. R. Chelikowsky and M. L. Cohen, Phys. Rev. B ...
_ A. Harrison, Electronic Structure and the Properties of Solids. ...
Y. M. Niquet, C. Delerue, G. Allan, and M. Lannoo, ...
S. Y. Ren and D.Dow Phys. Rev. B 45, 6497 ...
S. Furukawa and T. Miyasato, Phys. Rev. B 38, 5726 ...
B. Delley and E. F. Steigmeier, Phys. Rev. B 47, ...

نمایش کامل مراجع

صدور گواهی نمایه سازی
من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

https://civilica.com/doc/22812

شناسه ملی سند علمی:

NANOSC02_052

تاریخ نمایه سازی: 27 دی 1385

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:

بهرامی، بهرام و عزیزی، حسن و منصور، نسترن،1386،محاسبه ترازهای انرژی نانو خوشه های سیلیکان به روش بستگی قوی تجربی،دومین همایش دانشجویی فناوری نانو،کاشان،https://civilica.com/doc/22812

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1386، بهرامی، بهرام؛ حسن عزیزی و نسترن منصور)
برای بار دوم به بعد: (1386، بهرامی؛ عزیزی و منصور)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:

رتبه علمی دانشگاه شهید بهشتی

نوع مرکز: دانشگاه دولتی

تعداد مقالات: 37,087

در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

مقالات مرتبط جدید