ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

بررسی تاثیرات میدان مغناطیسی بر روی لایه های نازک مس انباشته شده توسط پراکنش میدان مغناطیسی DC

تعداد صفحات: 4 | تعداد نمایش خلاصه: 1209 | نظرات: 0
سال انتشار: 1386
کد COI مقاله: IPC86_267
زبان مقاله: فارسی
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

راهنمای دانلود فایل کامل این مقاله

متن کامل این مقاله منتشر نشده و در پایگاه سیویلیکا موجود نمی باشد.

منبع مقالات سیویلیکا دبیرخانه کنفرانس ها و مجلات می باشد. برخی دبیرخانه ها اقدام به انتشار اصل مقاله نمی نمایند.به منظور تکمیل بانک مقالات موجود چکیده این مقالات در سایت درج می شوند ولی به دلیل عدم انتشار اصل مقاله امکان ارائه آن وجود ندارد.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی تاثیرات میدان مغناطیسی بر روی لایه های نازک مس انباشته شده توسط پراکنش میدان مغناطیسی DC

اشرف السادات میرکمالی - گروه فیزیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد بهشهر،بهشهر، ایران
محمود صابونی - گروه فیزیک ، دانشگاه آزاد اسلامی واحد شاهرود، شاهرود، ایران
امیرمسعود صادقی - دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شاهرود ، بلوار دانشگاه ، شاهرود ، ایران
رزیتسا یاکی موا - انستیتوی فیزیک و تکنولوژی سنجش دانشگاه لینشوپینگ ، لینشوپینگ ، سو

چکیده مقاله:

در این مقاله تغییرات میدان مغناطیسی خارجی اعمال شده به دستگاه DC مگنترون، برای انباشت لایه های نازک مس روی شیشه مورد بررسی قرار گرفته است . با استفاده از میکروسکوپ پروپ روبشی 1 اندازه دانه ها، توپوگرافی وزمختی لایه ها بررسی شدند . ساختار لایه های نازک تهیه شده و اندازه بلورک ها با روش پراش پرتوهای ایکس 2 تعیین شد . همچنین ضخامت لایه های انباشت شده با کمک روش پس پراکندگی رادرفورد 3 مورد بررسی قرار گرفت . با استفاده از نتایج حاصل از این آنالیزها ، اندازه بلورک ها و ضخامت لایه ها تعیین شد . آزمایش های انجام شده بیانگر کاهش زمختی و افزایش ضخامت لایه ها همراه با افزایش میدان مغناطیسی وآهنگ انباشت بوده است . همچنین با گرم کردن زیرلایه ها با روش بازپخت، در جهت های ترجیحی (111) و (200) رشد مشاهده کردیم بعلاوه افزایش اندازه دانه ها و میزان زمختی سطح لایه ها همراه با کاهش ضخامت بعد از بازپخت بوده اند

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/22576/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
میرکمالی، اشرف السادات و صابونی، محمود و صادقی، امیرمسعود و یاکی موا، رزیتسا،1386،بررسی تاثیرات میدان مغناطیسی بر روی لایه های نازک مس انباشته شده توسط پراکنش میدان مغناطیسی DC،کنفرانس فیزیک ایران 1386،یاسوج،،،https://civilica.com/doc/22576

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1386، میرکمالی، اشرف السادات؛ محمود صابونی و امیرمسعود صادقی و رزیتسا یاکی موا)
برای بار دوم به بعد: (1386، میرکمالی؛ صابونی و صادقی و یاکی موا)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود ممقالهقاله لینک شده اند :

  • W.Reuter and J. E. Baglin, J.Vac. Sci. Technol. 18, 282 ...
  • Ramesh Chandra, Amit Kumar Chawla, Davinder Kaur and Ayyab, Nano ...
  • H. Savaloni _ M. A. Player, E. Gu and G. ...
  • L. V. Azaroff , " Elements of X-Ray Crystallog raphy", ...
  • H. Savaloni; "Surface In Na notechnology" _ edition, University of ...
  • M. Ghoranneviss, K. Yasserian, H. R. Pourbalasi, XXVIIth ICPIG, Eindhoren ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه آزاد
    تعداد مقالات: 224
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی