ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

بررسی اثر ضخامت لایه در طراحی فیلتر ضد بازتاب IR نزدیک

سال انتشار: 1390
کد COI مقاله: THINFILM01_027
زبان مقاله: فارسیمشاهده این مقاله: 568
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 6 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی اثر ضخامت لایه در طراحی فیلتر ضد بازتاب IR نزدیک

زهرا خیرآبادی - دانشکده علوم، دانشگاه گیلان، گروه فیزیک
فرهاد اسمعیلی قدسی - دانشکده علوم، دانشگاه گیلان، گروه فیزیک

چکیده مقاله:

در این مقاله فیلترهای ضد بازتاب دا ناحیه مادون قرمز (IR) نزدیک با فرمول هم پیچیده Air/(LH)^m|Glass به ازای m های مختلف در طول موج مرکزی 550 نانومتر طراحی شد. در ترکیب این فیلترها از مواد ZnS و SiO2 استفاده شده است. با انتخاب m مناسب فیلتر بهینه با بازتابشی کمتر از 1% در ناحیه طول موجی 2500 - 1350 نانومتر نتیجه شد. تغییر بازتابش نسبت به طول موج ، زاویه تابش و ضخامت لایه ها و تغییرات شدت میدان الکتریکی در لایه های متناوب مورد بررسی قرار گرفت.

کلیدواژه ها:

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا THINFILM01_027 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/220778/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
خیرآبادی، زهرا و اسمعیلی قدسی، فرهاد،1390،بررسی اثر ضخامت لایه در طراحی فیلتر ضد بازتاب IR نزدیک،اولین کنفرانس ملی نو آوری ها در پردازش لایه های نازک و مشخصه های آنها،کرمان،https://civilica.com/doc/220778

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1390، خیرآبادی، زهرا؛ فرهاد اسمعیلی قدسی)
برای بار دوم به بعد: (1390، خیرآبادی؛ اسمعیلی قدسی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • Thelen, Alfered, Design of optical interference coating, McGraw-Hil publishing, 1989. ...
  • D. Li, F. Huang, S. Ding, applied surface science 257(201 ...
  • Sameer Chhaj ed, Martin F. Schubert, Jong Kyu Kim, E. ...
  • Xuantong Yinga, U, Xinmin Xua, Jinlong Luoa, Hongtu Cuib, Xiaobao ...
  • H.A. Macleod, Thin-Film Optical Filters, third ed, Institute of Physics ...
  • Stenzel, Olaf, The Physics Of Thin Film Optical Spectra, springer ...
  • In this paper anti-reflective filters in a near infrared region ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 12,870
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی