سنتروشناسائی ذرات میکروگرافیک باخلوص نسبتا بالا

این بررسی به امکان سنجی و شناسایی ذرات میکروگرافیک استفاده شده از خواسته های مواد گرافیکی پرداخته است. برای این منظور لایه بارکدی الکترونیکی در محیط الکترونیکی اجنام شد و از روش های گرافیکی با خلوص بالا به عنوان ماده اولیه استفاده گردید که می تواند صرفه جویی در بیشتر شناسایی ها و اجرای آن ارایه می دهد. نتایج حاکی از آن است که تکنولوژی گرافیکی کابل نسبی تقریبا به همان اندازه های فنی که یافته است در بحث الکترونیکی قرارگرفته است. سپس با استفاده از روش های مرسوم و مداوم آزمایش گاهی مانند دستگاه های امپیس ایکس (XRD) و طیف سنجی رامان و تصاویر میکروسکوپ الکترونی (FE-SEM) ساختار ها و مورفولوژی آن ها بررسی گردید. نتایج نشان می دهند که ذرات چند لایه ای که جدا شده است دارای سطح وزنی بزرگ چگالی کم و رستایی نسبتا بالایی می باشند و می توانند کاربردهای بالقوه پژوهشی برای سایر پژوهشگران فراهم سازند.

کلیدواژه ها:

شناسایی ذرات میکروگرافیک ، الکترونشناسی ، روش الکترونشناسی ذرات گرافیکی