مشخصه یابی پیشرفته در توسعه مواد جاذب امواج برای رادار هواپایه SAR و بهبود سامانه های ناوبری

مواد جاذب امواج (RAM) با کاهش سطح مقطع راداری (RCS) و کنترل بازتاب امواج الکترومغناطیسی، نقشی کلیدی در بهبود عملکرد رادارهای تصویربرداری دهانه مصنوعی (SAR) ایفا می کنند. در این مقاله، روش های مشخصه یابی پیشرفته مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) برای بررسی مورفولوژی سطح، پراش پرتو ایکس (XRD) برای تحلیل ساختار کریستالی، و شبیه سازی های عددی برای ارزیابی خواص الکترومغناطیسی مواد جاذب بررسی می شوند. استفاده از این روش ها منجر به طراحی موادی با جذب بالا و بازتاب کم می شود که تاثیر قابل توجهی در کاهش نویز و بهبود کیفیت تصاویر راداری دارند. علاوه بر این، توسعه مواد جاذب پیشرفته می تواند موجب افزایش دقت سامانه های ناوبری مبتنی بر رادار SAR گردد. نتایج حاصل نشان می دهد که ترکیب روش های تجربی و عددی به بهینه سازی خواص الکترومغناطیسی مواد کمک کرده و امکان طراحی بهینه برای کاربردهای خاص را فراهم می کند.

کلیدواژه ها:

مواد جاذب امواج (RAM) ، رادار دهانه مصنوعی (SAR) ، کاهش سطح مقطع راداری (RCS) ، مشخصه یابی مواد ، SEM