بررسی کاربردهای طیف سنجی جرمی یون ثانویه ((SIMS در تحلیل سطح نانومواد: روشها، مزایا و چالش ها

طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) یکی از قدرتمندترین تکنیک های آنالیز سطحی است که برای بررسی ترکیب شیمیایی و ساختار سطوح جامد و لایه های نانو استفاده می شود. SIMS به دلیل حساسیت سطحی بالا، وضوح جانبی عالی و قابلیت تجزیه و تحلیل عمقی ، ابزار بسیار مفیدی برای آنالیز ذرات محیطی است . این تکنیک قادر به شناسایی و تعیین مقدار عناصر و ترکیبات مولکولی در سطح با دقت بسیار بالاست . نقش حیاتی خواص سطح در تعیین رفتار و کاربرد نانومواد، آنالیز سطحی را به یک ضرورت برای مطالعه ، توسعه و کاربرد نانومواد تبدیل کرده است . مقاله حاضر به بررسی اصول کار، انواع روشهای SIMS و کاربردهای آن در تجزیه و تحلیل سطح نانومواد می پردازد.

کلیدواژه ها:

طیف سنجی جرمی یون ثانویه ((SIMS ، نانومواد ، تجزیه و تحلیل سطح ، آنالیز ترکیبی