تحلیل سطح نانومواد با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپتونلی روبشی :(STM) روشها، کاربردها و چالش ها

میکروسکوپهای نیروی اتمی (AFM) و تونلی روبشی (STM) دو ابزار اصلی برای این نوع مطالعه دقیق در مقیاس نانو هستند.به همین دلیل می توان AFM را به عنوان یکی از ابزارهای اصلی در مطالعه مواد نانوساختار در نظر گرفت که به محققین امکان می دهد ساختار، خواص و رفتار در سطوح نانومقیاس را با بررسی دقت بالا بررسی کنند.از سوی دیگر، STM به طور گسترده در تحقیقات مواد نانوساختار، نیمه هادی ها و سطوح فلزی استفاده می شود زیرا این مطالعات اطلاعات ارزشمندی در مورد ساختار الکترونیکی و خواص سطح در اختیار ما قرار می دهد.ترکیب استفاده از هر دو میکروسکوپ محققان را قادر می سازد تا اطلاعات کامل تری در مورد مواد به دست آورند تا به مقیاس نانو دست یابند و از این طریق به کشف خواص جدید و کاربردهای جدید مواد کمک کنند.اصول کار، کاربردها و چالش ها در استفاده از AFM و STM در مطالعات نانومواد در این مقاله مورد بحث قرار خواهند گرفت .

کلیدواژه ها:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ، میکروسکوپ تونلی روبشی (STM) ، ویژگی های سطحی نانومواد ، تصویربرداری نانومقیاس