بررسی عوامل موثر بر دقت اندازه گیری تنش پسماند به روش استاندارد پراش اشعه ایکس در ورق های چندلایه نورد سرد

سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,359

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICME12_171

تاریخ نمایه سازی: 25 شهریور 1392

چکیده مقاله:

روش استاندارد پراش اشعه ایکس یک روش غیرمخرب اندازه گیری تنش پسماند در مواد کریستالی دانه ریز می باشد. در این مقاله به بررسی پارامترهای موثر در اندازه گیری تنش پسماند به روش غیرمخرب استاندارد پراش اشعه ایکس در ورق سه لایه آلومینیوم- مس-آلومینیوم نورد سرد پرداخته شده است. مهمترین پارامترهای مورد بررسی عبارتند از تاثیر جوش سرد بین مس و آلومینیوم بر پیک های اشعه ایکس، تاثیر حذف نقاط بدوضع در نمودار فاصله صفحات کریستالی بر حسب توان دوم سینوس زاویه ی سای، تاثیر تعداد زاویه های کجی نمونه که در آن آنالیز اشعه ایکس انجام می شود، تاثیر انتخاب مناسب فاصله صفحات کریستالی در حالت بدون تنش و تاثیر میزان دقت در تعیین موقعیت پیک های اشعه ایکس با. از بررسی پارامترهای فوق مشخص شده است که، جوش سرد بین مس و آلومینیوم، و میزان دقت در تعیین موقعیت پیک های اشعه ایکس بیشترین تاثیر را در دقت تنش اندازه گیری شده دارا می باشند.

کلیدواژه ها:

روش استاندارد پراش اشعه ایکس ، ورق چندلایه ، تنش پسماند ، جوش سرد

نویسندگان

محمد صدیقی

دانشیار دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه علم و صنعت ایران

رضا ناظم نژاد

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده مهندسی مکانیک، دانشگاه علم و صنعت ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ Nishioka, T. Hanabusa and H. Fujiwara, "Theory of the ...
  • J. H. Auld and G. B. Greenough, "Residual lattice strains ...
  • Q. Luo and A. H. Jones, "High-precision determination ...
  • Coatings Technology, Vol. 205, pp. 1403-1408, 2010. ...
  • V. M. Hauk, in: E. Kula, V. Weiss (Eds.), Residual ...
  • B. D. Cullity and S. R. Stock, "Elements of X-ray ...
  • M. E. Fitzpatrick, A. T. Fry, P. Holdway, F. A. ...
  • C. Balasingh and A. K. Singh, "residual stresses and their ...
  • Paul S. Prevey, "X-ray Diffraction Residual Stress Techiques", Metals Handbook. ...
  • V.M. Hauk and E. Macherauch, "A Useful Guide for X-Ray ...
  • نمایش کامل مراجع