اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات و سیلیکات به روش اسپکتروفتومتری و رگرسیون حداقل مربعات جزئی
محل انتشار: مجله شیمی کاربردی روز، دوره: 4، شماره: 10
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 74
فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_CHEM-4-10_005
تاریخ نمایه سازی: 26 شهریور 1403
چکیده مقاله:
یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس و انتخابی برای اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات وسیلیکات بر اساس تشکیل کمپلکسهای آبی رنگ فسفو- و سیلیکومولیبدینیوم در حضور اسکوربیک اسید شرح داده شده است. اگر چه کمپلکسهای فسفات و سیلیکات با واکنشگر، همپوشانی طیفی بالایی نشان می دهند اما آنها بطور همزمان بوسیله رگرسیون حداقل مربعات جزئی اندازه گیری شده اند. محدوده کارکرد خطی برای فسفات۰۰/۳-۰۱/۰ و برای سیلیکات۰۰/۵-۰۱/۰ میلی گرم بر لیتر می باشد.اثر مزاحمت آنیونها و کاتیونهای مختلف مورد مطالعه قرار گرفت و روش پیشنهادی بطور موفقیت آمیز برای اندازه گیری همزمان فسفات و سیلیکات در شوینده ها بکار گرفته شد.
کلیدواژه ها: