شبیه سازی بدترین حالت نوسان توان در یک شبکه نمونه بازای وقوع دو خطای همزمان با استفاده از ضرایب حساسیت خطوط
محل انتشار: بیستمین کنفرانس بین المللی برق
سال انتشار: 1384
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,409
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PSC20_023
تاریخ نمایه سازی: 8 آذر 1385
چکیده مقاله:
سوئچینگ یک خط، خطاهای اتصال کوتاه تریپ یکی از ژنراتورهای شبکه و یا انجام Load Shedding در سیستم و نظایر آن می تواند منجر به وقوع نوسان توان گردد . این پدیده دوره ای طولانی تر از زمان وقوع خطا را که در حدود چندین ثانیه می باشد، شامل می شود . در مجموع، قطع قسمتهای مختلف سیستم به سبب وقوع چنین پدیده ای، ضروری نمی باشد . با اینحال امروزه وقوع چنین پدیده ای منجر به وقوع بسیاری از خاموشی هاست . بنابراین ارائه روشهایی برای شناخت ابعاد این پدیده و تنظیم مناسب رله های نوسان توان قفل کننده می تواند از وقوع بسیاری از خاموشی ها جلوگیری کند .
در این مقاله با استفاده از منابع معتبر و فعالیتهای تحقیقاتی انجام شده در این زمینه ] 1 و [ 3 ، نرم افزار نوسان توان قابل انعطافی نوشته شده است . آنالیز حساسیت خروج خطوط بگونه ایست که بر روی شبکه های بهم پیوسته قابل اعمال می باشد . با استفاده از آنالیز یاد شده، بدترین حالت نوسان توان در یک خط، بازای وقوع دو خطای متداخل، بررسی و تحلیل می گردد . شبیه سازی صورت گرفته، امکان تحلیل منحنی مکان هندسی امپدانس دیده شده توسط رله را پس از وقوع نوسان توان را به ما می دهد .
کلیدواژه ها:
نویسندگان
کاظم مظلومی
دانشکده مهندسی برق - دانشگاه صنعتی امیرکبیر ( پلی تکنیک تهران ) تهران
سیدسعید طاهری
دانشکده مهندسی برق - دانشگاه صنعتی امیرکبیر ( پلی تکنیک تهران ) تهران
حسین عسکریان ابیانه
دانشکده مهندسی برق - دانشگاه صنعتی امیرکبیر ( پلی تکنیک تهران ) تهران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :