استفاده از ویژگی های هیستوگرام مکانی و کلاس بندی SVM برای آشکارسازی شیء

سال انتشار: 1403
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 186

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

EDST01_117

تاریخ نمایه سازی: 9 تیر 1403

چکیده مقاله:

در بینایی کامپیوتر از مشخصه های اصلی یک شیء مانند شکل، بافت و رنگ در روش های مختلف برای آشکارسازی شیء استفاده شده است. در این مقاله، برای آشکارسازی شیء براساس محتوا (بافت و رنگ)، روش هیستوگرام مکانی پیشنهاد شده است. در روش پیشنهادی مدل شیء را به پنجره های کوچکی تقسیم می کنند. از پنجره های بدست آمده هیستوگرام گرفته و این هیستوگرام ها را با هیستوگرام قسمت-های مختلف از تصویر آزمایش منطبق می کنند. هر کجا که میزان تطبیق از یک حدی بالاتر بود آنجا را به عنوان محل شیء در نظر می-گیرند. روش پیشنهادی وابسته به محتوای شیء بوده و می تواند بطور همزمان چندین شیء از یک کلاس را در تصویر آشکارسازی کند و نیازی با آشکارسازی لبه ندارد.همچنین این روش با استفاده از کلاس بندی SVM، دقت آشکارسازی را بدون کاهش نرخ آشکارسازی، بهبود می دهد.

نویسندگان

مجید زارعی

استادیار، دانشکده مهندسی برق، دانشگاه پدافند هوایی خاتم الانبیا(ص) تهران، ایران

علی جاهدسراوانی

استادیار، دانشکده مهندسی برق، دانشگاه پدافند هوایی خاتم الانبیا(ص) تهران، ایران

قادر محمدی آغداش

مدرس ارشد، دانشکده مهندسی برق، دانشگاه پدافند هوایی خاتم الانبیا(ص) تهران، ایران