آشکارسازی اثرات توپوگرافی در مدل سازی پیشرو داده های توموگرافی مقاومت ویژه الکتریکی

مقاطع حاصل از اندازهگیری های توموگرافی الکتریکی متاثر از تباین خواص الکتریکی زونهای زیر سطحی بوده، که همین موضوع باعث تفکیک آنها از هم می شود . اما از دیگر مولفه های موثر در خروجی نهایی این مقاطع ، می توان به وجود توپوگرافی اشاره کرد. از اینرو، بایستی آثار بوجود آمده در اثر توپوگرافی در روند وارونسازی لحاظ شود. این آثار ممکن است ناهنجاری های غیرواقی را سبب شود. لذا در مقاله حاضر، جهت حل این مساله در گام نخست ، این آثار در مدلسازی پیشرو آشکارسازی می شود. به این منظور، توپوگرافی با بهره گیری از تبدیل شواتز کریستوفر به محیط مسطح تبدیل شده و در ادامه مدلسازی پیشرو در محیط ۵/۲ بعدی با استفاده از روش تفاضلات محدود انجام شده است . آثار ناشی از توپوگرافی با اعمال روند ارائه شده مقاله در مدلسازی پیشرو بر مدلهای مصنوعی بررسی گردید. نتایج مثالهای عددی به وضوح اختلاف بین مقادیر واقعی و مقادیر محاسباتی مقاومت ویژه الکتریکی در محیط های همگن ناهموار را نشان می دهد .

کلیدواژه ها:

توپوگرافی ، توموگرافی مقاومت ویژه الکتریکی ، مدلسازی پیشرو