همبستگی تخلخل با زبری توسط طیف پراکندگی سطوح نانویی سیلیکان متخلخل

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 97

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_PSI-14-4_004

تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1402

چکیده مقاله:

۱۰ mA/cm۲طیف بازتاب، چهار نمونه سیلیکان متخلخل تحت زمانهای خوردگی ۲، ۶، ۱۰ و ۱۴ دقیقه با چگالی جریاناندازه گیری شد. رفتار طیف بازتاب برای هر چهار نمونهیکسان، اما شدت آنها متفاوت بود و با افزایش زمان، شدت بازتاب، کاهش می یافت. دلیل عدم تغییر در رفتارهای طیف بازتاب ، یکسان بودن غلظت محلول الکترولیت در طول ساخت بوده و کاهش شدت بازتاب به دلیل کاهش ابعاد ذرات است. علاوه بر آن ناحیه مربوط به کمترین (۵۵۰ nm-۶۵۰ nm)شدت در طیف بازتابمربوط به گاف انرژی در سیلیکان متخلخل است که انتقال آبی را نیز نشان می دهد. بررسی زبری سطح نمونه های سیلیکان متخلخل با اندازه گیری طیف پراکندگی و با بکار بردن معیار رایلی و معادله دیویس- بنت، انجام شد. طیف پراکندگی نمونه ها در زاویه های فرود ۱۰ و ۱۵ و ۲۰ درجه با استفاده از دستگاه اسپکتروفوتومتر، اندازه گیری شد. شدت نور پراکنده شده با افزایش زاویه پراکندگی به غیر از حالت بازتاب آینه ای، کاهش یافت که این با معیار رایلی توافق دارد. همچنین بررسی های امان نشان دادند. با افزایش زمان خوردگی، درصد تخلخل، ابعاد و تعداد حفره ها افزایش یافته و در نتیجه میزان بیشتری از نور برخوردی جذب می شود و شدت پراکندگی از سطح کاهش خواهد یافت، اما از آنجاییکه شدت پراکندگی با تغییر مقیاس مشاهده، طول موج، تغییر می کند بنابراین شدت پراکندگی و میزان خوردگی نیز با تغییر مقیاس مشاهده تغییر می کند

نویسندگان

رضا ثابت داریانی

گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا (س)، تهران

ستاره ابراهیم نسب

گروه فیزیک، دانشگاه الزهرا (س)، تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • S Motamen, M Vahabi, and G R Jafari, Int. Journal ...
  • J A Ogilvy, “Theory of Wave Scattering from Random Rough ...
  • M Paillet, P Poncharal, and A Zahab, Phys. Rev. Lett. ...
  • L T Canham, Appl. Phys. Lett. ۵۷ (۱۹۹۰) ۳۳۳. ...
  • H E Bennet and J O Porteus, J. Opt. Socam. ...
  • A Mortezaali, R S Dariani, S Asghari, and Z Bayindir, ...
  • L Vina, S Logothetidis, and M Cardona, Phys. Rev. B ...
  • S D Milani, R S Dariani, A Mortezaali, V Daadmehr, ...
  • G R Jafari, P Kaghazchi, R S Dariani, A Iraji ...
  • S K Srivastava, D Kumar, P K Singh, M Kar, ...
  • J Dian, A Macek, D Niznansky, I Nemec, V Vrkoslav, ...
  • Z Fekih, F Z Otmani, N Ghellai, and N E ...
  • نمایش کامل مراجع