Effect of Compressive Residual Stress on the Corner Crack Growth
محل انتشار: فصلنامه مکانیک جامد، دوره: 5، شماره: 4
سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 120
فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_JSMA-5-4_001
تاریخ نمایه سازی: 28 مرداد 1402
چکیده مقاله:
In the present study, plasticity induced crack closure (PICC) concept and three dimensional (۳D) finite element methods (FEM) are used to study the effect of compressive residual stress field on the fatigue crack growth from a hole. To investigate the effect of compressive residual stress on crack opening levels and crack shape evolution, Carlson’s experiments were simulated. Crack shape evolution is investigated by employing an automatic remeshing technique using MATLAB-ABAQUS code. The effect of mesh element size is considered by using element sizes of ۰.۰۲۵mm and ۰.۰۱۲۵mm. Crack opening level results indicate that the applied residual stress increases the opening levels with an average of ۴۵%. The higher opening levels results in higher number of fatigue cycles by a ratio of ۳.۰۷ for ۱.۹mm surface crack growth increment. Comparing the result obtained with Carlson’s experiments indicates that the crack closure method employed in the present analysis is in good agreement. Comparing the results with Jones’ supeposition method, moreover, illustrates that present paper method is more accurate.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
M.H Gozin
Department of Mechanical Engineering, K.N. Toosi University of Technology
M Aghaie-Khafri
Department of Mechanical Engineering, K.N. Toosi University of Technology
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :