Effect of Ion Implantation on the Resistance of Channel Region in the LDMOSFET
محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران
سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,331
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISCEE15_163
تاریخ نمایه سازی: 3 آذر 1391
چکیده مقاله:
In this paper we show the effect of ion implantation on the resistance of the LDMOSFET. In the ion implanted channel (IIC) LDMOSFET the channel region charge ismodified, thus the inversion layer charge is changed. Since the resistance in a MOSFET is determined by the inversion layercharge, the resistance of the channel region may be varied. By employing the IIC structure, the inversion layer charge decreases and thus the resistance increases.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
Mahdi Ghasemi
Department of Electrical Engineering, South Tehran Branch, Islamic Azad University, Tehran
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :