بررسی تأثیر ضخامت لایه نازک سلنیوم بر منحنی و شارژ گیرنده های نوری معدنی مورد استفاده در زیراکس

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 779

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISSE08_055

تاریخ نمایه سازی: 26 آبان 1391

چکیده مقاله:

الکتروفوتوگرافی یا زیروگرافی یک عنوان کلی برای تمام سیستم های تصویر گیری است که در انها از میدان های الکتروستانیکی و یک فوتور سانا استفاده می شود. گیرنده هی نوری مهمترین جزء تشکیل دهنده دستگاههای زیراکس و چاپگرهای لیزری و اساس و پایه تکنیک زیرورادیوگرافی هستند، که کار اصلی آنها این است که الگوی نوری را به تصویر الکتروستانیکی تبدیل می کنند و با پاشیدن پودر مرکب، امکان انتقال آن بر روی صفحه کاغذ و تهیه کپی از نسخه اصلی، به وجود می آید. گیرنده های نوری بر پایه مواد معدنی مانند سلنیوم آمورف و یا مواد آلی ساخته می شوند. گیرنده های نوری سلنیوم آمورف از سه لایه مختلف مانند لایه آلومینیوم به عنوا ن لایه رسانا، لایه اکسید آلومینیوم به عنوان لایه عایق یا سد کننده پتانسیل و لایه فعال سلنیوم آمورف تشکیل شده اند، که نقش تولید و انتقال حامل های بار را بر عهده دارد. برای دقت در نوئید لایهها، ابتدا آلومینیوم خالص در خلاء 1x10-6m.bar و به روش PVD از بئته سیمی تنگستنی لایه نشانی شده و سپس برای تولید لایه سد کننده پتانسیل، سطح آن را تا عمق مشخصی با تزریق مقداری هوا از طریق شیر سوزنی به محفظه خلاء اکسید کردیم. تأثیر ضخامت این لایه قبلاً مورد بررسی قرار گرفته است [2] در مرحله آخر، از سلنیوم کلوخه ای با درجه خلوص 99/999 درصد استفاده کردیم. به این ترتیب که آن را از داخل بوته مولیبدین و در خلاء 1x10-6m.bar و با ضخامت های مختلف لایه نشانی کردیم. در این تحقیق، نقش ضخامت سلنیوم آمورف (میکروکریستالین آمورف [1] برای زیروگرافی ، مورد بررسی قرار گرفت. در این کار به جز ضخامت لایه سلنیوم بقیه پارامترهای لایه نشانی ثابت نگهداشته شدند؛ برای انجام این کار با قرار دادن شاترهایی در مقابل برخی از نمونه ه، میزان ضخامت لایه های سلنیوم را به دلخواه تغییر دادیم. پس از تولید لایه ها، منحنی های دسارژ تاریکی و روشنایی هر یک از انها را با کمک دستگاه شبیه ساز زیراکس رسم نمودیم. با مقایسه منحنی های مربوط به نمونه های مختلف با یکدیگر مشاهده شد که در ابتدا با افزایش ضخامت لایه سلینوم، کاف بین منحنی دسارژ تاریکی و دسارژ روشنایی مربوطه نیز افزایش می یابد، اما زمان رسیدن به این کاف بیشینه، تقریباً ثابت می ماند. این نتیجه نشان می دهد که افزایش ضخامت لایه سلنیوم تا محدوده خصی، کارایی آن را برای استفاده در زیراکس بهبود می بخشد. در ضمن این افزایش ضخامت تا یک محدوده خاص، استحکام مکانیکی لایه ها را هم افزایش می دهد.

نویسندگان

ایرج مرادی

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه علم و صنعت ایران

رسول اژنیان

استادیار دانشگاه علم و صنعت ایران

سید علی شیخ الالسلامی

دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشگاه علم و صنعت ایران

موسی نخعی

دانشجوی دکتری، دانشگاه علم و صنعت ایران