ساخت لایه نازک تانتالیوم و بررسی ویژگی های ساختاری و اپتیکی آن
سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 124
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
TAAPY02_046
تاریخ نمایه سازی: 8 خرداد 1402
چکیده مقاله:
با توجه به کاربردهای اپتیکی تانتالیوم و اکسید آن در صنعت، در این مقاله لایه نازک تانتالیوم بر بستر سیلیکونی به روش کندوپاش مگنترون جریان مستقیم در ضخامت های متفاوت لایه نشانی گردید. همچنین با استفاده از دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی، الگوی پراش پرتو ایکس و طیف سنجی ماورای بنفش مرئی ویژگی های ساختار مورد ارزیابی قرار گرفت. نتایج نشان میدهد که با افزایش ضخامت لایه نازک طیف بازتاب نور فرودی بر آن با افزایش طول موج به سمت طیف نور مادون قرمز افزایش می یابد، بنابراین می توان از آن برای ساخت فیلترهای اپتیکی باتابنده یا آینه های کامل استفاده کرد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
سارا محمدی بیلانکوهی
گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور، تهران، ایران
حسین غفوریان
گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور، تهران، ایران