Design and simulation of an Improved NEMFET with Low Leakage Current and Sub-threshold Swing

سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 120

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_TDMA-7-4_003

تاریخ نمایه سازی: 31 اردیبهشت 1402

چکیده مقاله:

In this paper design and simulation of an improved depletion-mode n-channel nanoelectromechanical field effect transistor (NEMFET) at ۳۰۰K is reported. The designed NEMFET is based on NEMS technology and fully compatible with CMOS fabrication process. A NEMFET is composed of a NEM relay and a MOSFET and comprises a movable gate and a semiconductor part, so that the flowing current is always in the semiconductor part. The nanomechanical movable gate was a bossed doubly clamped beam and simulated by COMSOL Multiphysics software and the electrical part was designed and simulated by ATLAS software. The designed NEMFET had a ۲۵ nm length, ۱۰۰ nm width and ۵.۲ nm thicknesses. Optimization was done by applying two ۸.۵ nm spaces, one between source to gate and the other between gate to drain. Simulation results show in the proposed structure, sub-threshold swing was decreased to ۸۶ mV/dec and the Ion/Ioff ratio was increased to ۸.۶۸×۱۰۴.

نویسندگان

Nastaran Jafari

Yadegar-e-Emam Khomeini (RAH) Shahr-e-Rey Branch, Islamic Azad University, Tehran, Iran

Farshad Babazadeh

Yadegar-e-Emam Khomeini , IAU

Zahra Ahangari

Islamic Azad University

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Karnik,Tanay, and Peter Hazucha, "Characterization of soft errors caused by ...
  • Takeda, E., Kume, H., Toyabe, T., & Asai, S,. "Submicrometer ...
  • Kam, Hei, et al, "A new nano-electro-mechanical field effect transistor ...
  • Enachescu, Marius, et al. "Ultra low power NEMFET based logic," ...
  • Enachescu, Marius, et al. "Low-Leakage ۳D Stacked Hybrid NEMFET-CMOS Dual ...
  • Haldar, Ritwik, Koushik Guha, and Srimanta Baishya. "Effect on pull-in ...
  • COMSOL Multiphysics® version ۵.۲a ...
  • Osterberg, P., Yie, H., Cai, X., White, J., & Senturia, ...
  • Kim, J. H. , "Near Zero Sub-threshold Swing Nano-Electro-Mechanical Field ...
  • ATLAS User Manual, Santa Clara, USA: Silvaco International, ۲۰۱۵ ...
  • نمایش کامل مراجع