اندازه گیری تلفات هارمونیکی درورقهای مغناطیسی با سیستم ازمون تک ورقی

سال انتشار: 1382
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 934

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICEE11_207

تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1391

چکیده مقاله:

برای توسعه مواد مغناطیسی جدید و تولید ورقهای مغناطیسی بهتر می بایست مشخصات مغناطیسی این ورقها وعملکرد آنها درماشین های الکتریکی و ترانسفورماتور ها مورد بررسی و ارزیابی قرارگیرد ازجمله این مشخصات تلفات ورقها درشرایط شاراعوجاجی می باشد این مقاله به بررسی سیستم آزمون تک ورقی پیاده سازی شده و اندازه گیری مشخصات ورقهای مغناطیسی با این سیستم می پردازد با کمک این سیستم تلفات هیسترزیس ناشی از شارهارمونیکی درورقهای مغناطیسی اندازه گیری گردید این اندازه گیری ها برای هارمونیکهای مختلف و دردامنه و فازهای متفاوتی صورت گرفت برای ورقهای جهت نیافته با اعمال 20 درصد هارمونیک سوم به شکل موج تحریک تلفات درحدود 12 درصد برای این ورقها اندازه گیری شد درحالیکه این مقدار تا 25 درصد برای برخی از ورقهای جهت یافته می رسد همچنین با اندازه گیری های انجام شده تعیین گردید که فاز هارمونیکها دراین تلفات بسیارتاثیرگذار است و برای ورقهای جهت نیافته تا بیش از 23درصد خطا درپیشگویی مقدارتلفات ورق ایجاد می نماید.

کلیدواژه ها:

سیستم ازمون تک ورقی - شاراعوجاجی - ورقهای مغناطیسی

نویسندگان

علی اکبر قدیری

دانشگاه علم و صنعت ایران مرکز تحقیقات فشارقوی و مواد مغناطیسی

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • - حسین حیدری و علی‌اکبرقدیری طراحی و ساخت یک مجموعه ...
  • - Y.Alinej ad-Beromi, A.Moses mb , T.M.Meydan "Rotational losses in ...
  • - J.Sievert, "Is the Epstein Frame Replaceable?" IEEE Trans. on ...
  • - J. Sievert, :Recent advances in the one- and two ...
  • - G. Bertotti, E. Ferrara, F. Fiorillo, and M. Pasquale, ...
  • th ICEE, May 2003, Vol. 4 ...
  • نمایش کامل مراجع