Influence of missmatch-induced stress and porosity of materials on technological process
سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 168
فایل این مقاله در 27 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_RIEJ-11-2_001
تاریخ نمایه سازی: 20 شهریور 1401
چکیده مقاله:
In this paper we introduce an approach to increase density of field-effect transistors framework a C-multiplier. Framework the approach we consider manufacturing the inverter in heterostructure with specific configuration. Several required areas of the heterostructure should be doped by diffusion or ion implantation. After that dopant and radiation defects should by annealed framework optimized scheme. We also consider an approach to decrease value of mismatch-induced stress in the considered heterostructure. We introduce an analytical approach to analyze mass and heat transport in heterostructures during manufacturing of integrated circuits with account mismatch-induced stress.
کلیدواژه ها:
C-multiplier ، Optimization of manufacturing ، Accounting of missmatch induced stress and porosity of materials ، analytical approach for modelling
نویسندگان
Evgeny L. Pankratov
Nizhny Novgorod State Technical University, ۲۴ Minin Street, Nizhny Novgorod, ۶۰۳۹۵۰, Russia.
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :