مشخصه یابی فیلم های نازک نانو ساختار اکسید قلع آلاییده با آنتیموان تهیه شده با تکنیک غوطه وری سل- ژل

در این بررسی فیلم های اکسید قلع آلاییده شده با آنتیموان بر روی زیر لایه های شیشه ای به روش لایه نشانی غوطه وری سل-ژل تهیه شدند. فیلم ها تحت عملیات بازپخت در باره دمایی 200 -500قرار گرفتند. خواص ساختاری، مورفولوژیکی، اپتیکی و الکتریکی فیلم ها توسط دستگاه XRD ,میکروسکوپ نیروی اتمیAFM)طیف سنجUV-Visible و آنالیز اثر هال اندازه گیری شد. نتایج نشان داد فیلم تهیه شده دارای ساختار کریستالی تتراگونال اکسید قلع بوده و هیچگونه فاز اضافی ناشی از حضور ناخالصی در الگوی پراش مشاهده نشد. طیف تراگسیل فیلم ها بیانگر این حقیقت است که فیلم ها در محدوده مرئی شفاف هستند و افزایش دمای بازپخت میزان عبور را کاهش می دهد، ثابت های اپتیکی (ضریب شکست، ضریب خاموشی)، ضخامت و گاف نواری فیلم ها از طیف تراگسیل و با استفاده از روش بهینه ساری نامقید تعیین گردید و مشاهده شد که با افزایش دمای بازپخت، ضریب شکست و ضریب خاموشی فیلم ها افزایش و گاف نواری کاهش می یابد. مقاومت سطحی فیلم ها نیز با افزایش دمای بازپخت کاهش چشمگیری می یابد