بررسی خواص الکترومغناطیسی لایه ضخیم فریت باریم تشکیل شده به روش سل - ژل

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 755

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IMES01_338

تاریخ نمایه سازی: 29 اسفند 1390

چکیده مقاله:

لایه ضخیم فریت باریم با ترکیب BaFe12O19 با استفاده از فرایند سل - ژل به روش چرخشی تهیه شد سل توسط پودرهای توزیع یافته درمحلول اولیه فریت باریم تشکیل شد ارزیابی ساختار ترکیب و خواص مغناطیسی لایه ضخیم فریت باریم توسط VSM EDX SEM XRD پذیرفتارسنج ac انجام شد نتایج نشان داد که می توان پوشش فریت باریم عاری از ترک با ضخامت حدود 15μm تولید کرد مشخص شد که حلقه های پسماند مغناطش برای میدان مغناطیسی اعمالی در دو حالت موازی و عمودی تقریبا یکسان بودند.

نویسندگان

احسان محمدشریفی

دانشجوی کارشناسی دانشگاه صنعتی مالک اشتر

علی قاسمی

استادیار دانشگاه صنعتیمالک اشتر

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Y. Chen, D. E. Laughlin, X. Ma, M. H. Kryder, ...
  • A. Lisfi, J. C. Lodder, J. Magn. Magn. Mater. 242-245 ...
  • S. Capraro, J. P. Chatelon, M. Le Berre, J. Magn. ...
  • S. Pignard, H. Vincent, J. P. Senateur, Thin Solid Films, ...
  • نمایش کامل مراجع