آنالیز RBS-Channeling ابزاری توانمند جهت مطالعه ساختار بلوری جامدات

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 210

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JONSAT-29-1_001

تاریخ نمایه سازی: 12 دی 1400

چکیده مقاله:

بررسی ساختار بلوری به روش های آنالیز به وسیله باریکه یونی، افق جدیدی از درک ساختار بلوری و نقص های موجود در بلور را امروزه به روی پژوهشگران گشوده است. در این مقاله بطور خلاصه مفاهیم و کاربردهای آنالیز RBS-Channeling در بررسی ساختار بلوری مواد معرفی می شود؛ مختصری هم از کاربردهای این روش آنالیز در زمینه بررسی نمونه های نیمرسانا گنجانده شده است.

کلیدواژه ها:

آنالیز با باریکه یونی ، بیناب نمایی پراکندگی رادرفورد ، کانال زنی یونی ، ساختار بلوری ، نقایص بلوری

نویسندگان

علی باقی زاده

آزمایشگاه واندوگراف، پژوهشکده علوم هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، صندوق پستی: ۳۴۸۶-۱۱۳۶۵، تهران ایران

داوود آقاعلی گل

آزمایشگاه واندوگراف، پژوهشکده علوم هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، صندوق پستی: ۳۴۸۶-۱۱۳۶۵، تهران ایران

امیدرضا کاکویی

آزمایشگاه واندوگراف، پژوهشکده علوم هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، صندوق پستی: ۳۴۸۶-۱۱۳۶۵، تهران ایران

علیرضا طالبی طاهر

آزمایشگاه واندوگراف، پژوهشکده علوم هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، صندوق پستی: ۳۴۸۶-۱۱۳۶۵، تهران ایران

محمد لامعی رشتی

آزمایشگاه واندوگراف، پژوهشکده علوم هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، صندوق پستی: ۳۴۸۶-۱۱۳۶۵، تهران ایران

محمد فرمهینی فراهانی

آزمایشگاه واندوگراف، پژوهشکده علوم هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتمی ایران، صندوق پستی: ۳۴۸۶-۱۱۳۶۵، تهران ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • W.K. Chu, J.W. Mayer, M.A. Nicolet, “Backscattering Spectrometry,” Academic Press ...
  • C. Cohen, D. Dauvergne, “High Energy Ion Channeling: Principles and ...
  • J. Stark, “Bemerkung über zerstreuung und absorption von β-strahlen und ...
  • J.W. Mayer, L. Erikson, J.A. Davies, “Ion Implantation in Semiconductors,” ...
  • J.R. Bird, “Ion Beam for Materials Analysis,” Academic Press (۱۹۸۹) ...
  • RBS-Channelin ...
  • ع. باقی زاده، د. آقاعلی گل، ا.ر. کاکوئی، م. لامعی ...
  • د. آقاعلی گل، ع. باقی زاده، د. فتحی، ”باز توزیع ...
  • S.M. Sze, “VLSI Technology,” McGraw-Hill Book Company (۱۹۸۳) ...
  • A. Seppala, “Ion Beam Channeling Studies of Compound Semiconductor Materials,” ...
  • T. Alzanki, R. Gwilliam, N. Emerson, Z. Tabatabaian, C. Jeynes, ...
  • M.L. Swanson, “The Study of Lattice Defects by Channeling,” Report ...
  • M. Bohr, “Intel's ۹۰nm Logic Technology Using Standard Si Transistors,” ...
  • ۱۳ ...
  • RBS-Channelin ...
  • ع. باقی زاده، م. شیروانی، د. آقاعلی گل، م. فرمهینی ...
  • O.W. Holland, D. Fathy, J. Narayan, O.S. Oen, “Dose Rate ...
  • L. Shao, Y.Q. Wang, X. Zhang, C.J. Wetteland, M. Nastasi, ...
  • L. Shao, M. Nastasi, “Methods for the Accurate Analysis Rutherford ...
  • S.D. Gemmell, “Channelling and Related Effects in the Motion of ...
  • L. Shao, Y.Q. Wang, M. Nastasi, “A New Iterative Process ...
  • J.F. Ziegler, J.P. Biersack, U. Littmark, “The Stopping and Range ...
  • E. Kotai, “Measurement of the Stopping Powers for Channeled Ions ...
  • R. Giuliun, R.C. Fadaneli, J.F. Dias, M. Behar, P.L. Grande, ...
  • R. Salonen, A. Seppala, T. Ahlgren, “Characteristics of PIXE Channeling ...
  • F. Schrempel, T. Opfermann, E. Wendler, W. Wesch, “Determination of ...
  • L. Shao, Y.Q. Wang, M. Nastasi, J.W. Mayer, “A Technique ...
  • د. آقاعلی گل، ع. باقی زاده، ا.ر. کاکوئی، م. لامعی ...
  • P.J.M. Smulders, D.O. Boerma, “Computer Simulation of Channeling in Single ...
  • E. Kotai, “KFKI Research Institute for Particle and Nuclear Physics,” ...
  • نمایش کامل مراجع