مشخصه یابی آلومینای متخلخل آندی به روش آنالیز با باریکه ی یونی

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 198

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JONSAT-37-2_006

تاریخ نمایه سازی: 12 دی 1400

چکیده مقاله:

 اکسیدآلومینیم متخلخل به دلیل خواص یگانه­ ی خود، کاربرد گسترده­ای در فن­ آوری دارد. کیفیت لایه ­ی متخلخل، ضخامت این لایه، چگالی و اندازه­ ی خلل ها، نقش تعیین­ کننده­ای در عملکرد این ماده ­ی پیشرفته دارند. اندازه گیری مستقیم و غیرمخرب ویژگی­ های لایه ­ی متخلخل به منظور کنترل فرایند ساخت و بهبود عملکرد آن، از چالش های پیش روی پژوهش گران است. در این پژوهش، سعی شده است تا با استفاده از توانمندی آنالیز به وسیله­ ی باریکه ­ی یونی، برخی از مشخصات اکسید آلومینیم متخلخل تعیین شود. به این منظور از روش های پس­ پراکندگی کشسانی (EBS)، آشکارسازی ذرات پس زده از برخورد کشسان (ERD) و برهم کنش هسته ای (NRA) برای مشخصه یابی آلومینای متخلخل و مقایسه­ ی آن با نمونه­ ی آلومینای غیرمتخلخل استفاده شده است. با استفاده از روش EBS ترکیب­های عنصری، ناخالصی ها و نمایه­ی عمقی عناصر؛ با استفاده از روش NRA غلظت عناصر اکسیژن و کربن در نمونه؛ و با روش ERD نمایه ­ی عمقی هیدروژن موجود در نمونه ها، اندازه گیری شده است. علاوه بر این، با استفاده از روش آنالیز پس­ پراکندگی باریکه ­ی یونی تشدیدی  ۱۶O(α ,α)۱۶O، تحلیل ساختاری تخلخل بررسی شده است.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

فریبا مخلص گرامی

گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور،

امیدرضا کاکویی

پژوهشکده ی فیزیک و شتابگرها، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای

سعید محمدی

گروه فیزیک، دانشگاه پیام نور

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • K. Ishizaki, S. Komarneni, M. Nanko, Porous Materials Process technology ...
  • A. Santos, T. Kumeria, D. Losic, Nanoporous anodic aluminum oxide ...
  • R.M. Metzger, V.V. Konovalov, M. Sun, T. Xu, G. Zangari, ...
  • Y. Piao, H. Kim, Fabrication of nanostructured materials using porous ...
  • G.Q. Lu, X.S. Zhao, Nanoporous materials- An overview, Nanoporous materials: ...
  • B. Bhushan (Ed.), Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology ...
  • S. Brunauer, P.H. Emmett, E. Teller, The use of low ...
  • A.B. Abell, K.L. Willis, D.A. Lange, Mercury intrusion porosimetry and ...
  • C.M. Lopatin, T.L. Alford, V.B. Pizziconi, T. Laursen, A new ...
  • Z. Zolnaiand, A. Deák, N. Nagy, A.L. Tóth, E. Kótai, ...
  • V. Torres-Costaand, F. Pászti, A. Climent-Font, R.J. Martín-Palma, J.M. Martínez-Duart, ...
  • V. Torres-Costaand, R.J. Martín-Palma, F. Paszti, A. Climent-Font, J.M. Martínez-Duart, ...
  • D.J. O'Connor, Ion scattering from ۰.۱ keV to ۱۰ MeV: ...
  • A. Loni, A.J. Simons, L.T. Canham, Compositional variations of porous ...
  • S. Kumar, J.V. Ramana, C. David, V.S. Raju, Ion beam ...
  • T. Giadduiand, L.G. Earwaker, K.S. Forcey, B.J. Aylett, I.S. Harding, ...
  • H. Krzyz_anowska, A.P. Kobzev, J. Z_uk, M. Kulik, Hydrogen and ...
  • IAEA-TECDOC-۱۴۰۹, Ion beam techniques for the analysis of light elements ...
  • O.R. Kakuee, V. Fathollahi, M. Lamehi Rachti, Ion beam analysis ...
  • M. Kokkoris, M. Diakaki, P. Misaelides, X. Aslanoglou, A. Lagoyannis, ...
  • P. Skeldon, K. Shimizu, G.E. Thompson, G.C. Wood, Barrier-type anodic ...
  • P. Skeldon, K. Shimizu, G.E. Thompson, G.C. Wood, Barrier-type anodic ...
  • A.C. Gâlcă, E.S. Kooij, H. Wormeester, C. Salm, V. Leca, ...
  • D.R. Pesiri, R.C. Snow, N. Elliott, C. Maggiore, R.C. Dye, ...
  • M. Hernandez-Velez, K.R. Pirota, F. Paszti, D. Navas, A. Climent, ...
  • P. Prieto, K.R. Pirota, A. Climent-font, M. Vazquez, J.M. Sanz, ...
  • V.K. Khanna, R.K. Nahar, Effect of moisure on the dielectric ...
  • R.K. Nahar, V.K. Khanna, W.S. Khokle, On the origin of ...
  • R.K. Nahar, V.K. Khanna, Carrier-transfer mechanisms and Al۲O۳ sensors for ...
  • K.S. Chou, T.K. Lee, F.J. Liu, Sensing mechanism of a ...
  • O.K. Varghese, D. Gong, M. Paulose, K.G. Ong, C.A. Grimes, ...
  • F. Paszti, G. Battistig, Ion beam characterization and modification of ...
  • A. Gurbich, Evaluated data from SigmaCalc archive (۲۰۱۳); https://www-nds.iaea.org/exfor/ ibandl.htm ...
  • Z. Hajnal, E. Szilagyi, F. Paszti, G. Battistig, Channeling-like effects ...
  • H.H. Andersen, J.F. Ziegler, Hydrogen- Stopping Powers and Ranges in ...
  • M. Mayer, SIMNRA user's guide, Report IPP۹/۱۱۳, Germany: Max-Planck-Institutfur PlasmaPhysik, ...
  • E. Szilagyi, F. Paszti, G. Amsel, Theoretical approximations for depth ...
  • L.R. Doolittle, Algorithms for the rapid simulation of Rutherford backscattering ...
  • Z. Hajnal, E. Szilágyi, F. Pászti, G. Battistig, Channeling-like effects ...
  • N.P. Barradas, C. Jeynes, R.P. Webb, Simulated annealing analysis of ...
  • نمایش کامل مراجع