ساختار چندلایه مشتمل بر مشدد حلقوی برای اندازه گیری ضریب عایقی مواد تلفدار

این مقاله با استفاده از ساختار میکرواستریپ چند لایه، یک روش اندازه گیری ضریب عایقی را ارائه می کند. همچنین، مدل سازی و تحلیل ساختار پیشنهادی را ارائه می دهد. روش به کار رفته بلوک های جدیدی را در مدل میکرواستریپ چند لایه معرفی می کند، که می تواند نتایج دقیق تری ایجاد کند. این بلوک ها، برای مدل سازی تاثیر لایه های مختلف خط انتقال از جمله ماده مورد آزمایش و لایه های دیگر است. در اینجا ، یک کیت اندازه گیری مسطح چند لایه برای استخراج پارامترهای دی الکتریک مواد مختلف ارائه شده است. این کیت اندازه گیری می تواند میزان پرمیتیویته نسبی و همچنین تانژانت تلفات دی الکتریک را اندازه گیری کند. علاوه بر این، این کیت می تواند برای مشخصه گذاری دی الکتریک های جامد و مایع مورد استفاده قرار گیرد. اندازه گیری برای فرکانس ۲ گیگاهرتز طراحی و ساخته شده است، اگرچه می تواند فرکانس های بالاتر را هم پوشش دهد. مود غالب و مودهای مرتبه بالاتر رزوناتور برای اندازه گیری پارامترهای ماده، در طیف وسیعی از فرکانس قابل استفاده است. نتایج تحلیلی، شبیه سازی و اندازه گیری نشانگر توافق خوب با یکدیگر است که صحت روال پیشنهادی را تایید می کند.

کلیدواژه ها:

اندازه گیری غایق ، اندازه گیری مایکروویو ، خواص مواد ، ضریب کیفیت ، مدل تحلیلی