تولید داده آزمون با استفادهاز UML و ضوابط OCL

سال انتشار: 1383
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,109

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ACCSI10_220

تاریخ نمایه سازی: 25 آذر 1390

چکیده مقاله:

روشهای تولید داده آزمون به دلیل راه اندازی دیگر مراحل آزمون از مهمترین زمینه های تحقیقاتی آزمون نرم افزار می باشند بیشتر روشهای ارایه شده در رویکرد ساختاریافته برتحلیل کد به منظور آزمون برای پوشش حوزه های خاص مانند پوشش حلقه استوار بوده ودررویکرد شی گرا تولید داده آزمون معمولا برآزمون سطح کلاس متمرکز می باشد روشهای موجود برای تولید داده آزمون با ایجاد معیارهای مورد نیاز خود به دنبال ایجاد داده آزمون برای پوشش ان معیارها می باشند دراین مقاله روشی بهمنظور تولید داده آزمون برای نرم افزارهای شی گرا برپایه سناریوهای کاربری نرم افزار ارایه شده است براین اساس می توان داده آزمون را به منظور پوشش فرایند سطح بالای کاری کاربر با سیستم بطور خودکار تولید کرد.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

سعید جلیلی

گروه مهندسی کامپیوتر دانشکده فنی مهندسی دانشگاه تربیت مدرس

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ Edvardsson _ Survey on Automatic Tes _ (Gereration, Froceedings ...
  • _ Gupt1 N., Mathur A. P.. and Soffa M. L... ...
  • Chen T Y. _ Tse _ and Zlou Zl. Fault-based ...
  • Gupta N.. Mathur A P. arnd _ _ Automated Tes ...
  • Gupta N., Mathur A. P. and Soffa M. L, LUNA ...
  • Edvardsso2 J. and Kamkar M., Analysis o4 the Constraint Solver ...
  • Generation Proceeding of the s" _ software engineering conference held ...
  • Michael C. C. and McGraw G., _ Sottware Tes Data ...
  • _ and Xu Z., Test Case Generation for Class-Lev! Objec-Oriented ...
  • _ Liu Sh.. Albdurazik A. _ P., Generating test data ...
  • Ball T., _ D., Ruskey F., Webber R. and White ...
  • نمایش کامل مراجع