یک روش جدید جهت تست مدارهای مجتمع به وسیله چگالی طیفی امواج EM
محل انتشار: چهاردهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق کشور
سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,322
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISCEE14_266
تاریخ نمایه سازی: 31 مرداد 1390
چکیده مقاله:
تست مدارهای مجتمع با پوشش تست مناسب Test Coverage نیازمند تجهیزات پیشرفته ATE است که بسیار پرهزینه می باشد هزینه تست تراشه ها با توجه به توسعه سریع صنعت نیمه هادی و افزایش تعدادمولفه های تراشه ها هرساله افزایش می یابد و حتی در آینده ممکن است از قیمت ساخت تراشه بیشتر شود دراین مقاله یک روش جدید جهت تست مدارهای مجتمع و تشخیص تراشه های معیوب ارایه شده است این روش مبتنی بر تحلیل چگالی طیفی امواج EM منتشر شده از یک تراشه در حال تست و بررسی همبستگی آن با طیف تابشی دیگر تراشه ها می باشد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :