مشخصه سنجی تابش EUVو ایکس نرم از پلاسمای تولید شده در میدان لیزر نانوثانیه بوسیله آشکار ساز دیود نوری AXUV

سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 326

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_PSI-19-4_017

تاریخ نمایه سازی: 3 اسفند 1399

چکیده مقاله:

نتایج تجربی بدست آمده از تابش ایکس نرم (SXR) و فرابنفش قوی یا EUV extreme ultraviolet)) بوسیله آشکارساز دیود نوری AXUV (absolute extreme ultraviolet) حاصل از برهمکنش میدان لیزر نانوثانیه برای اولین بار در ایران مورد بررسی و تحلیل قرار گرفته اند. تابش فرابنفش قوی و ایکس نرم از پلاسمای تولید شده  با هدف فلزی استیل - 316، گسیل می گردد. سامانه لیزری پالسی با انرژی 250 میلی ژول،  با پهنای زمانی 10- 30 نانوثانیه در طول موج 1064 نانومتر تولید می کند. نتایج در محدوده طول موج تابشی یک رابطه خطی بین انرژی پالس لیزر و انرژی تابش از پلاسما را نشان می دهد. پالس های تابش پلاسما در این محدوده با قله مشخص و بلند در سیگنال حاصل از آشکار ساز AXUV  با پهنای زمانی حدود 15 نانوثانیه و با تاخیر حدود 20 نانوثانیه نسبت به پالس لیزر مشاهده و ثبت گردید. همچنین میانگین بازدهی تبدیل انژی لیزر به تابش پلاسما در گستره بینابی ایکس نرم و فرابنفش قوی حدود 2/5 %  محاسبه شده است.

نویسندگان

نادر مرشدیان

پژوهشکده پلاسما و گداخت هستهای، پژوهشگاه علوم و فنون هستهای

امیرحسین فرهبد

پژوهشکده پلاسما و گداخت هستهای، پژوهشگاه علوم و فنون هستهای

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • A G Michette, “Optical systems for soft X-rays, Plenum Press”, ...
  • E Spiller, “Soft X-ray Optics”, SPIE Optical Engineering Press, Bellingham, ...
  • Y Duan et al., Plasma Science and Technology 13, 5 ...
  • A S Prokhorov, et al., Plasma Physics Report 30, 2 ...
  • Y Liu, et al., Rev. Sci. Instrum. 74, 4 (2003) ...
  • C Suzuki, B J Peterson, and K Ida, Rev. Sci. ...
  • S Santosh, et al., X-Ray Spectrom. 45 (2016) 185. ...
  • M Richardson, et al., J. Vac. Sci. Technol. B 22, ...
  • J Tang, et al., Plasma Science and Technology 18, 3 ...
  • W Liqiu, et al., Journal of Applied Physics 117 (2015) ...
  • W Liqiu, et al., Vacuum 123 (2016) 126. ...
  • L Wenbo, et al., Vacuum 136 (2017) 77. ...
  • L A Gizzi, et al., Phys. E 49 (1994) 5628. ...
  • P R Willmott and J R Huber, Rev. Mod. Phys. ...
  • E Woryna, et al., Rev. Sci. Instrum. 71 (2000) 949. ...
  • L Torrisi, et al., Appl. Surf. Sci. 217 (2003) 319. ...
  • “Opto Diode Optoelectronics Data Book”, Innovators in Optoelectronics, http://optodiode. com/ ...
  • A Saxena et al., Applied Physics 2, 2 (2010) 176. ...
  • ن مرشدیان، ف شاهوردی و ا ح فرهبد، مجلة پژوهش ...
  • 19. N Morshedian, F Shahverdi, and A H Farahbod, Iranian ...
  • م افشاری، "مطالعه پرتو X نرم حاصل از برهم‌کنش باریکة ...
  • Y Tao, F Sohbatzadeh, A Sunahara and T Kawamura, Appl. ...
  • نمایش کامل مراجع