و ETMT: ابزاری کارا برای محاسبه معیارهای آزمون پذیری در مدارهای VLSI

سال انتشار: 1399
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 374

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

CARSE05_069

تاریخ نمایه سازی: 17 آذر 1399

چکیده مقاله:

ويژگي های کنترل پذيری و مشاهده پذيری ازجمله اطلاعات مهم و اساسي يک مدار سخت افزاری هستند که فرآيندهای آزمون و وارسي مدار بر اساس آنها صورت مي گيرد. ازجمله کاربردهای ديگر اين مشخصه های مدار، کمک به تشخيص تروجان های سخت افزاری با استفاده از رويکردهای ايستا است. ابزارهايي که تاکنون برای محاسبه معيارهای آزمون پذيری ارائه شده اند از ضعف هايي همچون پيچيدگي زمان و فضايي بزرگ و نيز مقادير محدود در اندازه مدار رنج مي برند. با بزرگ تر شدن مدارات و افزايش چگالي مدارات مجتمع محاسبه اين معيارها کاری زمان بر و دشوار خواهد بود. ازاين رو در اين مقاله ابزار جديدی طراحي و پياده سازی شده است که تنها با در اختيار داشتن ليست شبکه مدار در سطح گيت، ويژگي های کنترل پذيری و مشاهده پذيری سيگنال های مدار را محاسبه مي کند. اين ابزار ETMT يا ابزار محاسبه معيارهای آزمون پذيری 1، نام دارد. الگوريتم محاسباتي به کار رفته در TMTE نه تنها ويژگي های آزمون پذيری را با پيچيدگي زماني خطي محاسبه مي کند بلکه با محدوديت های موجود در ساير ابزارها نيز مواجه نيست.

کلیدواژه ها:

کنترل پذیری ، مشاهده پذیری ، آزمون سخت افزار ، تشخیص تروجان های سخت افزاری

نویسندگان

آزاده مختارپور

دانشجوی دکترای دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه تربیت مدرس

مهشید تبیانیان

فارغ التحصیل مقطع کارشناسی ارشد دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه تربیت مدرس

علیرضا شفیعی نژاد

استادیار دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، دانشگاه تربیت مدرس