طراحی ALU تحمل‌پذیر اشکال با روش جدید پیاده‌سازی کد برگر

سال انتشار: 1399
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 539

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_TJEE-50-2_011

تاریخ نمایه سازی: 4 آذر 1399

چکیده مقاله:

واحد محاسبه و منطق از حساس‌ترین واحدهای سازنده یک پردازنده است که اکثر دستورهای یک پردازنده توسط این بخش انجام می‌شود. افزونگی زمانی یکی از مناسب‌ترین روش‌های مقابله با خطای گذرا است. در اغلب روش‌های افزونگی زمانی لازم است ابتدا خطا آشکار شود، بنابراین وجود مدارهای آزمون در کنار روش‌های افزونگی زمانی ضروری است. از بزرگ‌ترین ایرادهای مدارهای آزمون سربار سخت‌افزاری بالای این مدارها است که باعث می‌شود طراحان در طراحی مدارهای کوچک مجبور به استفاده از روش‌های غیرمعمول شوند. در این مقاله روش جدیدی برای پیاده‌سازی مدار چک کننده برگر ارائه‌شده است در این روش از مدارات حالت جریان جهت پیاده‌سازی کد برگر استفاده‌شده است که ویژگی‌های آن سرعت بالاتر و سخت‌افزار موردنیاز کمتر است. با توجه به نتایج توان مصرفی مدار پیشنهادی نسبت به مدار دیجیتال به‌طور متوسط تا حدود 51 درصد کاهش‌یافته است و سطح اشغالی مدار آزمون حالت جریان 74.3 درصد کمتر از سطح مصرفی مدار معادل دیجیتال است. به‌طور متوسط هزینه مدار برگر حالت جریان (حاصل‌ضرب توان مصرفی در تأخیر و سطح مصرفی)، 91 درصد کمتر از پیاده‌سازی برگر دیجیتال معادل است.

نویسندگان

احمد توحیدی گل

دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر - دانشگاه علم و صنعت

رضا امیدی

دانشکده فنی مهندسی - گروه برق - دانشگاه زنجان

کریم محمدی

دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر - دانشگاه علم و صنعت

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • [1]           J. F. Ziegler et al., "IBM experiments in soft ...
  • [2]           F. Wang and V. D. Agrawal, "Single event upset: ...
  • [3]           W. Heidergott, "SEU tolerant device, circuit and processor design," ...
  • [4]           B. Narasimham et al., "Characterization of digital single event ...
  • [5]           M. Santarini, "Cosmic radiation comes to ASIC and SOC ...
  • [6]           N. Mahatme et al., "Impact of technology scaling on ...
  • [7]           A. Dixit and A. Wood, "The impact of new ...
  • [8]           R. K. Iyer and D. J. Rossetti, "A measurement-based ...
  • [9]           P. Duba and R. Lyer, "Transient fault behavior in ...
  • کاهش نرخ خطای نرم چندگانه مدارهای ترکیبی مبتنی بر اندازه گذاری دروازه ها بر مبنای پارامتر حساسیت [مقاله ژورنالی]
  • [11]         R. H. Maurer, M. E. Fraeman, M. N. Martin, ...
  • طراحی یک دیکدر BCH بهینه جهت افزایش اطمینان در ذخیره سازی اطلاعات و تصحیح خطا در حافظه های فلش [مقاله ژورنالی]
  • [13]         X. Kavousianos, D. Nikolos, G. Foukarakis, and T. Gnardellis, ...
  • [14]         R. Omidi and H. Zarrabi, "New Protection Technique Against ...
  • [15]         E. Ossi, D. Limbrick, W. Robinson, and B. Bhuva, ...
  • [16]         V. Sapozhnikov, V. Sapozhnikov, D. Efanov, and A. Blyudov, ...
  • [17]         V. Sapozhnikov, V. Sapozhnikov, and D. Efanov, "Search algorithm ...
  • [18]         F. Huemer and A. Steininger, "Advanced Delay-Insensitive 4-Phase Protocols," ...
  • [19]         G. P. Acharya and M. A. Rani, "Berger code ...
  • [20]         W. W. Peterson, "On checking an adder," IBM Journal ...
  • [21]         S. J. Piestrak, "Self-testing checkers for arithmetic codes with ...
  • [22]         I. Sayers and D. Kinniment, "Low-cost residue codes and ...
  • [23]         S.-H. Shieh and W.-S. Tong, "Berger Code Totally Self-Checking ...
  • [24]         N. Homma, T. Aoki, and T. Higuchi, "Algorithm-level interpretation ...
  • [25]         A. Saed, M. Ahmadi, and G. A. Jullien, "Arithmetic ...
  • [26]         T. Temel and A. Morgul, "Implementation of multi-valued logic ...
  • [27]         F. Yuan, "Voltage-Mode Versus Current-Mode: A Critical Comparison," CMOS ...
  • [28]         J. Engblom, "Why SpecInt95 should not be used to ...
  • نمایش کامل مراجع